| 主权项 |
1﹒一种用在小型电路处理装置之测试头,组 成成分有:延长导体测试针装置,其中每 一个具有一个第一尖端部份和一个第二尖 端部份,系被用来与要测试之小型电路的 既定区域形成电触点,以及延长导体测试 针导引装置,系被用来可滑动地容纳且摩 擦地衔接该测试探针装置之组合体之一, 并于其中提供电气性连接。 2﹒如请求专利部分第1项中的测试头,也包 含在预定排定排列中用来支持该测试针导 引装置之支撑装置。 3﹒如请求专利部份第2项中的测试头,其中 该支撑装置包含平面绝缘装置,此绝缘装 置乃用来容纳该测试探针导引装置的孔径 。 4﹒如请求专利部份第三项中的测试头,其中 该平面绝缘层含有数个导体,每个导体连 接到该测试针导引装置中的一个。 5﹒如请求专利部份第1项中的测试头,也包 含用来弹性地、纵向地推挤其组合测试针 导引装置之测试针装置的弹性装置,并与 小型电路装置接触,此小型电路装置乃被 该小型电路处理装置定位,以便处理。 6﹒如请求专利部份第4项中的测试头,也包 含用来弹性、纵向地推挤其组合测试头测 试针导引装置之测试头测试针装置,并与 小型电路装置接触,此小型电路装置乃被 该小型电路处理装置定位,以便处理。 7﹒如请求专利部分第1项中的测试头,也包 含用以维护预定排列中之该测试针装置之 该第二尖端部分的测试针尖端排列装置。 8﹒如请求专利部份第4项中的测试头,也包 含用来维护预定排列中之测试针装置之该 第二尖端部分的测试针尖端排列装置。 9﹒如请求专利部分第1项中的测试头,也包 含用在相对于该测试针尖端排列装置以设 定小型电路位置之十字装置。 10﹒如请求专利部份第9项中的测试头,其中 该十字装置系包含在该测试针尖端排列 装置的正反两面上之第一和第二之十字 装置,第一和第二之十字装置与该测试 针尖端排列装置的距离系相等。 11﹒如请求专利部份第4项中的测试头,也包 含用在相对于该测试尖端端排列装置以设 定小型电路位置之十字装置。 12﹒如请求专利部分第11项中的测试头,其 中该十字装置系包含在测试针尖端排列 装置中的正反两面上之第一和第二之十字 装置:第一和第二之十字装置与该测 试针尖端排列的距离系相等。 13﹒如请求专利部分第4项中的测试头,也包 含安装在该平面绝缘装置之上的电缆连接 器装置,且这些电缆连接器装置的接触装 置亦分别连至平面绝缘装置所包含之该导 体。 14﹒一种小型电路处理装置,包含有:一个基 座(base),一个夹头,以配合握住 要处理的小型电路;用在相对于该夹头以 定该夹头的位置之自动控制装置(ser vomech─anismmeans) ;用在控制该自动控制装置之手控装置; 用在对着第一和第二光轴观察该夹头中之 该小型电路的光学装置,第一和第二光轴 系相对于该基座而固定。 15﹒如请求专利部份第14﹒项中之小型电路 处理装置,其中该光学装置包含一个单独 的显微镜以及用在可选择性地设定该显微 镜之装置,致使显微镜的轴系与该第一和 第二光轴中任一个重合。 |
