发明名称 X–Y位置侦测器
摘要
申请公布号 TW058603 申请公布日期 1984.05.16
申请号 TW07213849 申请日期 1983.11.10
申请人 布烈电气机械厂亚可布布烈二世股份有限公司 发明人 彼得 安布罗斯;华特 柏狄克;汉斯 彼得 郭契;鲁道夫 林柏特 等6人
分类号 H01C8/00 主分类号 H01C8/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.用以侦测一笔在一接触板上之位置之一种X-Y位置侦测器,该器包括一电阻层,电阻层之四边上具有两对相对之电极装置,该等电极装贵各包含若干相互去耦之点电极,其中,一电压交替施加于两对相对之尾极装置而该笔则分接相当于其在该度阻层上之位置之分电压,其特点为,电阻层包括载体粒子,载体粒子之材料具有莫氏硬度计5至9间之硬度,经热解方式涂敷以碳并埋设于一粘合剂中,俾使电阻层坚硬并允许笔轻易运动于其表面,且电阻层供笔运动之表面经制成平滑。2.根据上述请求专利部份第1.项之装置,其特点为,载体包括矾石或硅石或攀石-硅石。3.根据上述请求专利部份第1.项之装置,其特点为,载硅粒子具有平板状或透镜状之形状。4.根据上述请求专利部份第1.项之装置,其特点为,载横之尺寸主要为5微米。5.根按上述请求专利部份第1.项之装置,其特点为,约80﹪重量之经涂数之载体粒子包含于20﹪重量之粘合剂中。6.根据上述请求专利部份第l.项之装置,其特点为,载体粒子经涂数以热解碳及一金属化合物。7.根据上述请求专利部份第1.项之装置,其特点为,笔之尖端系钢。8.根拟上述请求专利部份第1.项之装置,另包括遇期性施加一直流电压至两对电极之控制单位装置,及与电极装置串联之半导硅开关装置;该控制单位装置遇期性接收笔所分接之分电压。9.根据上述请求专利部份第8.项之装置另包括类比/数位转换装置。10.根据上述请求专利部份第1.项之装置,其特点为,电阻属保施加于一与接触板分开之可互换之底质上。11.根据上述请求专利部份中任一项之装置,其特点为,各点电极间之距离经选择为如此,即当各点电极间具有一电位差时,其间并无电流流动。12.根据上述请求专利部份第1.项之装置,其中,笔具有一管,一电绝缘之尖端电极,及一手操作之开关装置,该装置产生一侦测信号,使笔之X-Y位置被传送至一数据集合装贵,其特点为,该尖端电极系装设于管而与开关装置无关,管之外表面可导电,且管之外侧配置有一电绝缘之平电极,当手同时触及管与平电极时,平电极与管乃被连接。13.根据上述请求专利部份第12项之笔,其特点为,平电极约为指尖之大小并配置于该管之区城中,以便于使用者之食指接触。14.制作一电阻板之方法,该电阻板系供与一可与该板相对运动之笔作尾流接触之用,该方法包括下列诸步骤:以热解方式涂敷碳于一具有莫氏硬度计5至9间之硬度之导电材料粒子;将该等经涂数之粒子混合于一粘合剂;将其中混合有载体粒子之粘合剂就一,平滑之中间底质模制。15.根种上述请求专利部份第14.项之方法,其中,载体粒子包括硅石或攀石一硅石结合体。16.根据上述请求专利部份第14.项之装置,其中,载体粒子具有平板状或透镜状之形状。17.根据上述请求专利部份第14.项之方法,其中,载体粒子之大小主要为5微米。18.根据上述请求专利部份第14.项之装置,其中,约80﹪重量之经涂数之载体粒子混合于约20﹪重量之粘合剂,以构成该就平滑之中间底质模制之混合物。19.根据上述请求专利部份第14.项之方法,其中,载体粒子以热解方式涂以碳及一金属化合物。
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