发明名称 MESUREUR D'EPAISSEURS DE REVETEMENTS PAR INTERFEROMETRIE ULTRASONORE
摘要 <P>L'invention se rapporte à un procédé en vue de l'amélioration de la résolution d'un dispositif de mesure de l'épaisseur de couches de matériaux par interférométrie ultra-sonore. <BR/> Il est caractérisé en ce que : <BR/> - on détecte parmi les échos engendrés d'une part, un écho de battement caractéristique de l'interférence d'échos dans le milieu 1 considéré et, d'autre part, un écho dit écho pilote décalé de l'écho de battement et dont l'amplitude est directement liée à celle de l'impulsion d'émission ; <BR/> - on compare le niveau de l'écho pilote à une consigne prédéterminée 24 et on élabore une commande 25 proportionnelle à l'écart constaté ; <BR/> - en fonction de cette commande, par un moyen correcteur 26 situé en amont du dispositif de traitement 9 des échos, on influence de manière uniforme l'amplitude des signaux représentatifs de l'écho de battement et de l'écho pilote ; <BR/> - on reprend le procédé à l'étape initiale. <BR/> Application à l'industrie du matériel de métrologie. <BR/> (CF DESSIN DANS BOPI)<BR/> <BR/></P>
申请公布号 FR2593909(A1) 申请公布日期 1987.08.07
申请号 FR19860001740 申请日期 1986.02.03
申请人 MTM LEADER SARL 发明人 LABORATOIRE OPTO-ACOUSTO-ELECTRONIQUE DE U.V.H.C., PIERRE BOUDY, MARTINE HOUZE, PROFESSEUR BRUNEEL ET JEAN-LOUIS BIGOYTE;HOUZE MARTINE;BRUNEEL CHRISTIAN;BIGOTTE JEAN-LOUIS
分类号 G01B17/02;(IPC1-7):G01B17/02 主分类号 G01B17/02
代理机构 代理人
主权项
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