发明名称 |
MESUREUR D'EPAISSEURS DE REVETEMENTS PAR INTERFEROMETRIE ULTRASONORE |
摘要 |
<P>L'invention se rapporte à un procédé en vue de l'amélioration de la résolution d'un dispositif de mesure de l'épaisseur de couches de matériaux par interférométrie ultra-sonore. <BR/> Il est caractérisé en ce que : <BR/> - on détecte parmi les échos engendrés d'une part, un écho de battement caractéristique de l'interférence d'échos dans le milieu 1 considéré et, d'autre part, un écho dit écho pilote décalé de l'écho de battement et dont l'amplitude est directement liée à celle de l'impulsion d'émission ; <BR/> - on compare le niveau de l'écho pilote à une consigne prédéterminée 24 et on élabore une commande 25 proportionnelle à l'écart constaté ; <BR/> - en fonction de cette commande, par un moyen correcteur 26 situé en amont du dispositif de traitement 9 des échos, on influence de manière uniforme l'amplitude des signaux représentatifs de l'écho de battement et de l'écho pilote ; <BR/> - on reprend le procédé à l'étape initiale. <BR/> Application à l'industrie du matériel de métrologie. <BR/> (CF DESSIN DANS BOPI)<BR/> <BR/></P>
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申请公布号 |
FR2593909(A1) |
申请公布日期 |
1987.08.07 |
申请号 |
FR19860001740 |
申请日期 |
1986.02.03 |
申请人 |
MTM LEADER SARL |
发明人 |
LABORATOIRE OPTO-ACOUSTO-ELECTRONIQUE DE U.V.H.C., PIERRE BOUDY, MARTINE HOUZE, PROFESSEUR BRUNEEL ET JEAN-LOUIS BIGOYTE;HOUZE MARTINE;BRUNEEL CHRISTIAN;BIGOTTE JEAN-LOUIS |
分类号 |
G01B17/02;(IPC1-7):G01B17/02 |
主分类号 |
G01B17/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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