发明名称 IC WITH BUILT-IN TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS6310538(A) 申请公布日期 1988.01.18
申请号 JP19860155513 申请日期 1986.07.01
申请人 NEC CORP 发明人 HAYASHI YUTAKA
分类号 H01L21/66;G01R31/28;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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