| 主权项 |
1.一种在一具有一内心和一件护面层的光学纤维股之该护面层上形成一对立表面,以在该对立表面上提供瞬现穿透(Penetr-ation)之方法,其包括:(a)从该绒维股之一边移除一部份护面层以形成该对立表面;(b)照射该纤维股以传播光线于其中;(c)施加一物质到该对立表面;(d)测定在该对立表面漏泄出之纤维股照度数量,以提供在该对立表面的瞬现穿透之徵候指示;以及(e)重复上面之所有步骤,以增加在该对立表面漏泄出之该纤维股照度。2.一如请求专利部份第1.项所述之该方法,其中该物质系一指数匹配之物质。3.一如请求专利部份第1.或2.项所述之该方法,其中该测定步据包括决定迈入、传播于该纤维股内之整体光线,通过该对立表面之比率,且其中该方法更进一步包括:(1)为一光学绒维耦合器从一耦合效率范围中选择出一所欲之耦合效率;(2)符合该所欲之耦合效率,决定导入该纤维股内之整体光线,传播通过该对立表面之比率値;执行(1)和(2)以外之上面所有步骤,直到对整体光线之该比率恰等于符合该所欲的耦合效率之该决定値;为一第二纤维执行上面之所有步骤;以及精确地将该些绒维筒放在一起,且使得它们的内心在其各自的对立表面处间隔很短,以形成一具有该所欲耦合效率之耦合器。4.一如请求专利部份第3.项所述之该方法,更进一步包括:改变在该些织维的内心间之间隔一足够量,以提供一第二耦合效率。5.一如请求专利部份第1.项所述之该方法,其中该测定步骤包括测量该光学纤维股之消光比率(extinctionratio ),且其中该方法更进一步包括:为一光学绒维耦合器选择出一所欲的耦合效率;利用表示消光比率和耦合效率之间的关系之试验数据,使得用来形成该光学纤维股之光学纤维,在该对立表面被重叠于一具有相同消光比率的第二纤维股之一相同对立表面上时,决定需要致成该所欲耦合效率之消光比率;以及继续该移除步骤和该测定步骤,直到该被测量的消光比率符合该所欲的耦合效率。6.一如请求专利部份第5.项所述之该方法,其中该物质系一指数匹配的物质,且其中该消光比率之测量包括:A将一照明源耦合至该纤维股之一端;B在不施加任何物质至该对立衷而之情况下,测品光线传播到该纤维股的另一端的数量;C在施加一指数匹配物质至该对立表面的情况下,测量光线传播到该纤维股的另一端的数量;以及D利用步骤(B)和(c)之测量结果计算该消光比率。7.一如请求专利部份第1.项所述之该方法,其中该物图具有一第一折射指数,A其中该方法更进一步包括:将该物质的折射指数从该第一折射指皱更改至一比该第一折射指数更接近于该内心的折射指数之第二折射指数,该测定步骤包括侦测在该更改步骤期间从该光学纤维股所漏泄出来的光学能最之激品,以决定在该对立表面处瞬现场穿透之数品。8.一如请求专利部份第7.项所述之该方法,其中该物质之更改包括改变材质之温度。9.一如请求专利部份第7.或8.项所述之该方法,其中该第一和第二指数之一系低于该内心之指数,A该第一和第二指数之另外一个则高于该内心之指数。图式简单说明:图I系本发明纤维光学耦合器之一横剖面图,给示一对光学纤维股安装于分别底板之各别弧形槽内;图2及3系图l之耦合器之横剖而图,分别沿线2-2及3.3而得;图4系图1之耦合器下部底板之一透视图,与另一底板分离以显示安装于其内之纤维及纤维之椭圆形对立面;图5系一示意图显示此对纤维在相互作用区处亟盘之瞬现场;图6系一图1之耦合器之示意图,给示作为此耦合器参数之曲率半径、内心间隔、及相互作用长度;图7系一"相等"耦合器之示意图;图8系归一耦合功率之座标图,相互作用长度该归一耦合功率为对一既定纤维内心间隔之函数;图9系一耦合功率之座标图,该归一称合功率为相互作用长度对另一纤维内心间隔之函数;图10系归一耦合功率为最小纤维内心间隔(亟盘之间隔表面)之一归一合耦合功率函数图;图11系纤维之椭圆形对立面之示意图,显示对立面积向偏置;图12系归一耦合功率之座标图,该归一耦合功率为横向偏置对一第一最小纤维内心间隔之函数;图13系归一耦合功率之座标图,该归一耦合功率为横向偏置对一第二最小纤维内心间隔之函数;图14系归一耦合功率之座标图,该归一机台功率为横向偏树对一第三最小纤维内心间隔之函数;图15系(a)归一耦合功率为横向偏简之一函数及(b)贯穿(throughtloss)损失为横向偏R之一函数的范例耦合器归一耦合功率座标图,其显示贯穿损失在贸质上之整个归一耕合功率范围内系常数;图16系纤维对立面之一示意图,显示对立面纵向偏置;图17系纤维对立面之一示意图,显示对立面回转偏置;图18系一校准装置之透视图,其有调整对立而偏商之测微计以校准耦合器至一所欲之耦合效率;图19系一校准装置之透视图,其应用转换器向应一信号而偏置对立面以使本发明之耦合器可用作一校准器或交换器;图20系一用以切割安装方块内弧形槽之锯具装树之示意图;图21系一光学纤维之示意剖面图,其列示纤维业已磨光之深度可藉测量对立面之宽度而计算之;图22系一用于制造图I之。油滴试验"之示意图;图23系一归一耦合功率为消除比之一函数图,此消除比发展自"油滴试验"数据,且用以再制造具所欲耦合特性之杂合器;图24一消除比为磨光行程数之函数图,.此磨光行程数发展自油滴试验数据,且用以决定必须"附加磨光之量"以完成所予之消除比;及图25乃系一功率损失为用于"油滴试验。之油滴指数之函数图。 |
