| 主权项 |
1﹒一种检查拉链条(30)上之机能不良链齿(-32)之装置,包括;(a)一保持器(11);(b)至少一光源(12)配置于该保持器(11)上,包含光发射设备及光接收设备;(c)至少一光学纤维(13)由该光源(12)延伸,并将其先端安排成面对链齿排(32)之削角;(d)一比较测定器(25)连接于该光源(12),因而该光发射设备发射光线经由该光学纤维至该鎚齿排(32)上,该光接收设备经由该光学纤维(13)接收从削角反射之光线并将该反射光线转换成脉冲信号,而该比较测定器(25)将所成信与参考标准比较,以探知不良链齿(33)。2﹒如申请专利范围第1.项所述之装置 其中该光发射设备为一发光二极管(20)3.如申请专利范围第1.项所述之装置 其中该光接收设备为一摄影电晶体(21)4.如申请专利范围第1.项所述之装置 其中多数之光学纤(13)成对地相对配置图示简单说明:图1为本创作所具体化之装置之正面图;图2为概略图表示使用于该装置之电路图;图2为部份放大透视图,显示多数光纤管对二链齿排定位之方式;图4为削角设备之片段垂直截面图,其中显示有一对链齿未对准二相对削角凹部。 |
