| 主权项 |
1﹒一种条形码数据之自动监别之改良方法,包含下列步骤:(a)将含有空白与纹条持续期间数据之条形码数据储存于记忆体中;(b)由记忆体中取出所储存空白持续期间数据当中之第一个空白之持续期间数据;(c)由记忆组中取出所储存纹条持续期间数据当中之第一个纹条之持续期间数据:(d)计算第一个空白与第一个纹条之持续期间数据之第一个比値:(e)将第一个比値与预定数値相比较;以及(f)根据比较结果判断是否第一个空白为条形码边缘。2﹒申请专利范围第1项之方法,将第一个比値与预定数値相比较之步骤进一步含有判断该比値是否小于该预定数値之步骤。3﹒申请专利范围第2项之方法,进一步包含下列步骤:(g)如果第一个比値不小于第一个预定数値,则将第一个比値与第二个预定数値相比较以判断是否小于第二个预定数値;以及(h)如果第一个比较小于第二个预定数値,则将条形码数据当做第一种预定型式之条形码予以解码。4﹒申请专利范围第3项之方法,进一步包含下列步骤:(i)如果第一个比値不小于第二个预定数値,则将第一个比値与第三个预定数値相比较以判断是否小于第三个预定数値:以及(J)如果第二个比値小于第三个预定数値,则将条形码数据当做第二种预定型式之条形玛予以解码。5﹒申请专利范围第4项之方法,进一步包含下列步骤:(K)如果第一个比値不小于第三个预定数値,则将条形码数据当做第三种预定型式之条形码予以解码。6﹒申请专利范围第1一5项任何一项之方法,进一步包含下列步骤:当第一个比値小于第一个预定数値时,由记忆体中取出第二个空白后面之第二个空白与第二个纹条之持续期间资料,除步骤(a)以外重复执行该方法之步骤,并且计算第二个比値。7﹒申请专利范围第1项之方法,其中,第一个预定数値为3。8﹒申请专利范围第3项之方法,其中,第二个预定数値为4。9﹒申请专利范围第4项之方法,其中,第三个预定数値为6。10﹒申请专利范围第4项之方法,其中,第一种预定型式之条形码包括至少Code128与codabar条形码。11﹒申请专利范围第4项之方法,其中,第二种预定型式之条形码包括至少Code128,Codabar与UPC/EAN条形码。12﹒申请专利范围第1项之方法,进一步包含下列步骤:使用插断驱动测量技术测量空白与纹条数据。13﹒一种使用微处理器之自动监别之改良方法,包含下列步骤:测量含有数位式信号之条形码数据,数位式信号代表多数个空白与纹条之持续期间:将测得之条形码数据储存于记忆体中以及,使用微处理器执行先前储存之条形码数据之解码:测量条形码数据之该步骤含有下列步骤:产生数位式脉冲列;将脉冲列达至微处理器之第一个插断埠口并将反相之脉后列连至微处理器之第二个插断埠口;以及,使用脉冲列与反相脉冲列中之上昇与下降波缘触发微处理器内之第一个计时器与第二个计时器,以便将上昇与下降波缘之间之持续期间加以计时,而且,使用微处理器之该步骤包括:在上昇与下降波缘之间之时间内使用微处理器执行先前储存之测得的条形码数据之解码。图示简单说明图1 为电路图,显示本发明之插断处理技术。图2为流程图,显示本发明之插断处理技术。图3为流程图,显示本发明之自动监别技术。 |
