发明名称 | 半导体气相外延的减压方法及系统 | ||
摘要 | 一种半导体气相外延的减压方法及系统。方法特征是外延气压在10~500托下进行外延生长,反应后的气体被抽走。系统特征包括出水管、喷水腔组成的水抽气射流循环装置。出水管的喷水嘴在喷水腔内。反应室与排气管间设置了真空压力计、调节截止阀,排气管出气口接入喷水腔。该方法及系统具有降低外延生长温度、抑制自掺杂,提高外延层厚度和电阻率均匀性等效果;并具有气流>10升/分,压力10~500托能长时间工作,排气量大、耐腐蚀等优点。 | ||
申请公布号 | CN1055258A | 申请公布日期 | 1991.10.09 |
申请号 | CN91101787.9 | 申请日期 | 1991.03.19 |
申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 叶必光;沈复初;陈坚 |
分类号 | H01L21/205;C30B25/14 | 主分类号 | H01L21/205 |
代理机构 | 浙江大学专利代理事务所 | 代理人 | 崔勇才 |
主权项 | 1、一种半导体气相减压外延的减压方法,其中包括硅源气、氢气、掺杂气一起以>10升/分经射频加热线圈加热分解,淀积在衬底上生成的外延层,本发明的特征在于所述硅源气、氢气、掺杂气一起在10~500托气压下进行外延生长,反应后的气体由水抽气射流循环装置抽走。 | ||
地址 | 310027浙江省杭州市玉泉 |