| 发明名称 |
Method and arrangement for reducing artifacts in the measuring results of the near-field microscopy |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL223236(B1) |
申请公布日期 |
2016.10.31 |
| 申请号 |
PL20110396056 |
申请日期 |
2011.08.22 |
| 申请人 |
POLITECHNIKA WROCŁAWSKA;INSTYTUT ELEKTROTECHNIKI |
发明人 |
SIKORA ANDRZEJ;UNOLD OLGIERD;RODAK ALEKSANDER |
| 分类号 |
G01Q60/24;G01B21/30;G01Q30/04 |
主分类号 |
G01Q60/24 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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