| 主权项 |
1.一种供测量物理参数之感测器,包含:-一个框架,-至少一个支架,它在前述的物理参数的影响下可弹性弯曲并且与前述框架相整合,-至少一个重物被连接至前述支架,-至少一个空室,其与前述框架相整并且包围前述重物以形成供支架一重物之装组的阻尼设备,-至少一个侦测设备,其与支架相整合并且能提供一讯号来表示用以反应前述支架之弯曲度的前述物理参数,它具有用来将重物定位于前述空室的设备。2.根据申请专利范围第1项之供测量物理参数之感测器,其中该定位装置至少部分地与支架相整合。3.根据申请专利范围第1项之供测量物理参数之感测器,其中该定位装置包含两个宽间隔的螺桩一开孔装组,装组中的每一个部分被提供于支架中,一部分被提供于框架中。4.根据申请专利范围第1项之供测量物理参数之感测器,其中支架具有一基应,将支架设计为机械式地固定在框架上并且由此扩展坚固的延伸部分,该延伸部分支撑该重物以及能够相对基座弯曲以触发侦测设备,其中定位设备的第一个装组和基座相整合而第二个装组和由基座扩展的延展相整合。5.根据申请专利范围第4项之供测量物理参数之感测器,其中延伸部分为一粱,其以外悬方式由基座扩展,其中之延展包含至少一臂,该臂在平行粱之自由端的方向扩展。6.根据申请专利范围第4项之供测量物理参数之感测器,其具有两臂延伸在该粱之两侧上且其自由端部之外连接一起以构成一定位框架。7.根据申请专利范围第6项之供测量物理参数之感测器,其中第二个装组被提供在两臂的接合支撑零件之中。8.根据申请专利范围第1项之供测量物理参数之感测器,其中开孔被提供在支架中而螺桩被推进框架中。9.根据申请专利范围第1项之供测量物理参数之感测器,其中空室被提供在框架中。10.根据申请专利范围第9项之供测量物理参数之感测器 |
