| 发明名称 |
METHOD OF USING CIRCUIT BOARD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR ELEMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH04225544(A) |
申请公布日期 |
1992.08.14 |
| 申请号 |
JP19900408038 |
申请日期 |
1990.12.27 |
| 申请人 |
IBIDEN CO LTD |
发明人 |
KAWASAKI YOGO;TSUKADA KIYOTAKA |
| 分类号 |
G01R1/06;G01R31/26;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R1/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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