发明名称 正交相二维层状SiP单晶及薄膜的制备方法及其应用
摘要 一种正交相二维层状SiP单晶及薄膜的制备方法及其应用,该方法包括以下步骤:(1)称取Si、P和Sn,Sn作为金属助熔剂,然后将三种原料装入石英管中,抽真空后烧结封管;(2)将石英管放入加热炉中,采用阶段性升温程序,Si和P充分化合反应;(3)o‑SiP成核并长大后,将石英管从炉膛取出并倒置,o‑SiP单晶与金属助熔剂Sn分离;(4)打开石英管取出料块,除去附着在o‑SiP表面的Sn助熔剂,清洗干净,得到片状o‑SiP晶体;(5)将o‑SiP晶体浸没于NaOH溶液中,超声后分离出沉淀物,清洗得到较大尺寸及高质量的正交相二维层状SiP单晶纳米薄膜;可用于饱和吸收体对激光产生调制、超短脉冲激光器的被动锁模以及制作光电子器件、辐射探测器或太阳能电池。
申请公布号 CN106119960A 申请公布日期 2016.11.16
申请号 CN201610590752.7 申请日期 2016.07.25
申请人 山东大学 发明人 王善朋;陶绪堂;李春龙;于童童
分类号 C30B29/10(2006.01)I;C30B9/10(2006.01)I;C30B29/64(2006.01)I 主分类号 C30B29/10(2006.01)I
代理机构 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人 王绪银
主权项 一种正交相二维层状SiP单晶及薄膜的制备方法,其特征是,包括以下步骤:(1)按照摩尔比Si:P:Sn=1:1~1.2:4~10的比例称取Si、P和Sn,Sn作为金属助熔剂,然后将三种原料装入石英管中,抽真空后烧结封管;(2)将石英管放入加热炉中,采用阶段性升温程序,首先10小时~15小时升温至400~600℃,恒温30小时~50小时;然后20小时~30小时升温至1100~1200℃,恒温20小时~30小时,使得Si和P充分化合反应;(3)以0.1~7℃/小时的速率缓慢降温,在此过程中o‑SiP成核并逐渐长大;当炉体温度降至600~700℃时,迅速将石英管从炉膛取出并倒置,使生长得到的o‑SiP单晶与金属助熔剂Sn分离,得到体块o‑SiP单晶;(4)打开石英管取出料块,置于盐酸中溶解除去附着在o‑SiP表面的Sn助熔剂,然后用去离子水清洗干净,得到黑色片状o‑SiP晶体;(5)将o‑SiP晶体浸没于浓度为2mol/L~5mol/L的NaOH溶液中,在频率40Hz下超声20小时~40小时,然后分离出沉淀物,用去离子水清洗,得到正交相二维层状SiP单晶纳米薄膜。
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