发明名称 二氧化矽膜之形成方法
摘要 本文揭示一种在基板表面上形成一种氧化矽厚膜之方法。此法包括在基板表面上形成一层矽倍半氧烷氢树脂膜,然后在一种含有 0 体积分率至20体积分率之氧及80体积分率以上至 100 体积分率,但不含 100 体积分率之钝气之混合气氛下加热,载直树脂膜之基板而将矽倍半氧烷氢树脂转化成氧化矽陶瓷,直到氧化矽产物中和矽键结之氢含量低于或等于矽倍半氧烷氢树脂中和矽键结之氢含量80%为止。
申请公布号 TW232082 申请公布日期 1994.10.11
申请号 TW082109435 申请日期 1993.11.10
申请人 道康宁公司 发明人 中村骏;佐佐木本之;峰胜俊
分类号 H01L21/31 主分类号 H01L21/31
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.氧化矽膜之形成方法包含:在基板表面上形成矽倍半氧烷氢树脂膜;并在一种含有 0 体积分率至 20 体积分率之氧及 80 体积分率至 100(但不含 100)体积分率之钝气之混合气氛中加热,载有树脂膜之基板而将矽倍半氧烷氢树脂转化成氧化矽陶瓷,其到氧化矽产物中和矽链结之氢含量低于或等于矽倍半氧烷氢树脂中和矽键结之氢含量之80为止。2.根据申请专利范围第1项之方法,其中形成于基板表面之矽倍半氧烷氢树脂膜系藉制备一种矽倍半氧烷氢树脂之有机溶剂溶液,再藉选自旋转涂布,喷雾及浸渍之方法覆上此溶液,接着除去溶剂而得。3.根据申请专利范围第2项之方法,其中之溶剂系选自芳香族溶剂,脂肪族溶剂,酮溶剂,酯溶剂,及矽氧溶剂。4.根据申请专利范围第1项之方法,其中基板系选自玻璃基板,陶瓷基板,金属基板,及半导体元件。5.根据申请专利范围第1项之方法,其中钝气系选自氮气,氩气,氦气,及氖气。6.根据申请专利范围第1项之方法,其中气含量介于1体积分率至19体积分率。7.根据申请专利范围第1项之方法,其中加热温度介于250℃至500℃。8.根据申请专利范围第1项之方法,其中加热时间足使氧化矽产物中和矽键结之氢含量降至矽倍半氧烷氢树脂中和
地址 美国