| 发明名称 | 射极耦合逻辑电路的老化方法和装置 | ||
| 摘要 | 为能够缩短进行老化所需的时间而提出的ECL电路老化方法和装置。其特点是，可用于将输入信号与作为电路阈值的基准电位进行比较而根据比较结果输出对应输出信号的ECL电路，为进行在ECL电路正常操作时与进行老化时的基准电位Vref的电平转换而设置了一切换装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1101168A | 申请公布日期 | 1995.04.05 |
| 申请号 | CN94104266.9 | 申请日期 | 1994.03.15 |
| 申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 黑田忠广;野田诚 |
| 分类号 | H01L21/66 | 主分类号 | H01L21/66 |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 王岳;叶恺东 |
| 主权项 | 1、一种ECL电路的老化方法，其特征在于：所述方法被用于将输入信号与作为电路阈值的基准电位进行比较，根据比较结果输出对应的输出信号的ECL电路；在正常工作时将所述基准电位设置成所述输入信号的“H”电平与“L”电平的中间电平，而在进行老化时则将所述基准电位设置得比所述输入信号的“H”电平要高或者比其“L”电平要低。 | ||
| 地址 | 日本神奈川县 | ||