| 主权项 |
1.供一条码读出器用之一种伪条码抑制电路,此条码读出器回应由读出器所检测之光而产生一电信号,而此光系自条码返回者,此条码读出器有一数化仪用以产生电信号之第一导引信号,该抑制电路包含:用以在第一导引信号中检测自一低至高反射状态之转变之装置;信号复原装置,结合至该装置之输出,用以检测当被检测转变之间之时间超过一设定限制时而用以产生一启动电平;比较器装置,以该限制为背景用以比较该信号复原装置之输出,以及用以提供为抑制此数位化仪之输出;以及用以在外部地调整该限制之値之装置。2.如申请专利范围第1项中之抑制电路,其中该用以检测之装置包含一运算放大器和二极体,该非反向输入经联结以接收第一导引信号,该运算放大器之输出结合该二极体之阴极,以及该二极体之阳极则结合至该运算放大器之反向输入。3.如申请专利范围第2项中之抑制电路,其中该信号复原装置包含一电阻器和一电容器,以电阻器之一引线连接至一电压源,以及另一引线连接至二极体之阳极,以及自该电容器之一引线连接至二极体之阳极而以电容器之另一引线连接至地线,该电阻器和电容器系经选择有一时间常数,此常数系较为一有用条码遭遇另一转变所需之最长可能时间为长。4.如申请专利范围第3项之抑制电路,其中该比较器装置包含一第二运算放大器,一第二电阻器,一第三电阻器,一第四电阻器和一第五电阻器,以该第二电阻器之一引线连接至二极体之阳极,以及第二电阻器之另一引线连接至该第二运算放大器之非反向输入,该第三电阻器之一引线连接至该第二运算放大器之非反向输入,以及第三电阻器之另一引线连接至该第二运算放大器之输出,该第四电阻器之一引线连接至一第二电压源以及第四电阻器之另一引线连接至该第二运算放大器之反向输入,该第五电阻器之一引线连接至运算放大器之反向输入以及该第五电阻器之另一引线连接至地线。5.如申请专利范围第4项之抑制电路,另包含一高阻抗定位电路装置可对比较器装置输出作回应并影响该数位化仪之抑制,该定位装置包含一电晶体,一第六电阻器和一第七电阻器,以第六电阻器之一引线连接该第二运算放大器之输出以及第六电阻器之另一引线连接至电晶体之基极,该第七电阻器之一引线连接至该电晶体之基极以及该第七电阻器之第一引线连接至该电晶体之发射极,该电晶体之发射极连接着虚拟地线以及该电晶体之集电极连接着条码数化仪之输出。6.如申请专利范围第1项之抑制电路,其中该用以检测之装置包含一运算放大器和一二极体,该非反向输入经结合以接收第一导引信号,该运算放大器之输出结合至该二极体之阳极,以及该二极体之阴极结合于该运算放大器之反向输入。7.如申请专利范围第6项之抑制电路,其中该信号复原装置包含一电阻器和一电容器,以该电阻器之一引线和该电容器之一引线连接着地线,以及该电阻器之另一引线和该电容器之另一引线连接至二极体之阴极,该电阻器和电容器系经选择有一时间常数,此常数要较为一有用条码遭遇另一转变所需最长可能时间要更长。8.如申请专利范围第7项之抑制电路,其中该比较器装置包含一第二运算放大器,一第二电阻器,一第三电阻器,一第四电阻器和一第五电阻器,以该第二电阻器之一引线连接至该二极体之阴极,以及该第二电阻器之另一引线连接至该第二运算放大器之反向输入,该第三电阻器之一引线连接至该第二运算放大器之反转输入,以及该第三电阻器之另一引线连接至该第二运算放大器之输出,该第四电阻器之一引线连接至第二电压源以及该第四电阻器之另一引线连接至该第二运算放大器之非反转输入,该第五电阻器之一引线连接至运算放大器之非反转输入,以及该第五电阻器之另一引线连接至地线。9.如申请专利范围第8项之抑制电路,另包含一高阻抗定位电路,可对比较器输出作回应,并影响该数位化仪之抑制,该定位装置包含一电晶体,一第六电阻器和一第七电阻器,以第六电阻器之一引线连接至第二运算放大器之输出,以及该第六电阻器之另一引线连接着该电晶体之基极,该第七电阻器之一引线连接至该电晶体之基极以及该第七电阻器之另一引线连接至该电晶体之发射极,该电晶体之发射极连接着虚拟地线,以及该电晶体之集电极连接着条码数位化仪之输出。第1图为依据本发明供与条码扫瞄器之数位化仪连同使用之伪条码抑制电路之方块图;第2图为在一条码读出器中第1图内所示伪条码抑制电路之部分方块和示意性线图;第3(a)图为一信号之定时图,它代表一扫瞄之条码之第一推导;第3(b)图为在V处电压之定时图;第3(c)图为在V处比较器之输出电压之定时图;第3(d)图为具有自条码数位化仪之伪条输出之数位条码之定时图;以及第4图为依据本发明供伪条码抑制电路以及条码读出器之数位化仪所用之另一实施例之部分方块及 |
