| 主权项 |
1.一种用以测试n位元宽之元件的方法,此元件每一次产生一组输出码中的一个码,每一个输出码对应到一个施加在元件上的类比电压幅度,如此以确定该元件是否能够产生所有的输出码,其特征为以下的步骤:(a)将一个在0及V伏特中作幅度变动的电压Vt施加在一个元件中,在一段时间内,若元件工作正常,则被加上的电压Vt使得元件连续性地产生所有有效的输出码;(b)将每一个元件产生的输出码与n位元宽计数器的计数相比较,此计较起始于零;(c)在每一次元件所产生的输出码与计数器的计数相等时,计数器的计数加递增;(d)检查,在一段时间之后,检查计数器是否产生了一个告知发生满溢状况的进位位元信号,这会发生在元件是正常的状况下。2.如申请专利范围第1项中的方法,其中的电压Vt是周期性的,并且具有一个平滑变动的幅度。3.如申请专利范围第1项中的方法,其中的电压Vt具有一个随机变动的幅度。4.如申请专利范围第1项中的方法,其中的计数器藉着在工作开始时,加入一个重置信号,而使得计数由零开始。5.一种用以测试n位元宽之元件的装置,此元件每一次产生一组输出码中的一个码,每一个输出码对应到一个施加在元件上的类比电压幅度,如此可确定该元件是否能够产生所有的输出码,此装置的特征是:有一种机构用以将在0及V伏特中作幅度变动的电压Vt施加在上述元件中,当元件工件正常时,会产生所有的输出码;一个用以产生一个n位元计数的计数器,此计数由零开始,每一次计数器增加计数时,它是单调性地递增,而此计数器也会产生一个进位位元信号以指示计数器的计数是否已经超出2C^nC-1;一个比较器,它将元件所产生的输出码与计数器的计数相比较,当计数器的计数与元件的输出码相等对,计数器的计数将会增加。6.如申请专利范围第5项中的装置,其中的电压供给机构包含:一个电压源,此电压源产生一个在0及V伏特间变动的电压幅度;以及一个多工器,此多工器在来自电压源供给电压及信号K之间进行多工处理,在非测试时段中,该信号K一般而言是送入元件中,如此在非测试时段中,元件将接收信号K,而在非测试时段中,接收来自电压源的电压。7.如申请专利范围第6项中的装置,其中电压源所供给的电压具有一个平滑变动的幅度。8.如申请专利范围第5项中的装置,亦包含一种装置,能够在计数一旦超出2C^nC-1一个计数时,停止计数器的计数。9.如申请专利范围第8项中的装置,其中计数停止装置包括一个逻辑闸,此闸给合比较器的输出信号以及计数器的进位位元,当元件的输出码与计数器的计数相等且当此计数是小于2C^nC时,该闸的输出端会产生一个递增信号以使得计数器增加计数。图1是根据本发明,显示出一测试装置的方块图,此测试用以确知A/D转换器是否能够产生 |
