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发明名称
TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR MEMORY
摘要
申请公布号
KR950006215(B1)
申请公布日期
1995.06.12
申请号
KR19910007486
申请日期
1991.05.09
申请人
MITSUBISHI DENKI CORP.
发明人
ADACHI, SACHINOBU
分类号
G11C29/00;G11C11/401;G11C11/409;G11C29/28;G11C29/34;(IPC1-7):G11C29/00
主分类号
G11C29/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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