发明名称 投受光式物体检测装置
摘要 本创作系一种投受光式物体检测装置,其主要系一由红外线光束投光部与红外线光束检测部所构成之分离型红外线式侵入者检测装置,其特征在于更包括:可将表示上述红外线光速检测部所检出之红外线光束之强度的信号送至光检测器之光束投射器及;可表示上述红外线光速检测部所检出之红外线光束之强度之值的第1位准计。
申请公布号 TW252581 申请公布日期 1995.07.21
申请号 TW082205052 申请日期 1991.08.01
申请人 奥布铁克斯股份有限公司 发明人 有本达也;西村滋城;杉本匡史;饭室惠启
分类号 G01J1/02 主分类号 G01J1/02
代理机构 代理人 林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 1.一种投受光式物体检测装置,其主要特征系一具备红外线投光部,红外线受光部以及信号之回馈系统的红外线侵入者检测系统,而备有以下之构成要件:第1,第2光学机构:可选择性地当作投光器或是检测器来使用,且当第1光学机构之红外线二极体投光时,则第2光学机构可以检测到该光,或是当第2光学机构之红外线二极体投光时,则第1光学机构可以检测到该光而接受该光:此外则备有只有在上述第1光学机构之上述二极体当作检测器使用之期间,在成为可以反映出上述第1光学机构之输出信号的大小时会显示之第1位准显示器以及只有在上述第2光学机构之上述二极体当作检测器使用之期间,在成为可以反映出上述第2光学机构之输出信号的大小时会显示之第2位准显示器,藉此在第1光学机构当作检测器使用而上述第1位准显示器之显示値成为最大以前之期间,则将第1光学机构朝向第2光学机构可以使第1光学机构与第2光学机构之光轴成为一致,而在第2光学机构当作检测器使用而上述第2位准显示器之显示値成为最大之前的期间,别将第2光学机构朝向第1光学机构可以使第2光学机构与第1光学机
地址 日本