| 主权项 |
1.一种几何监测器,其系用于导引一曲体至一既定之受检位置及检测该曲体之几何组态,其特征包括一投光器组体及一影像检出器,该投光器组体系包括用为同时投射不同颜色之光束且被配置在对受检位置成种种不同之方位角及仰角之位置上之多数个点光源,该影像检出器系设置在该受检位置之上方且位于能接收来自该曲体之受监测表面之反射光之位置。2.一种几何监测器,其系用于导引一曲体至一既定之受检位置及检测该曲体之几何组态,其特征包括一投光器组体及一影像检出器,该投光器组体包括用为投射一预定颜色之光之光源阵列,该光源阵列系设置于对应于预定方位角之方向上,该影像检出器系配置于该受检位置之上方且位于能接收来自该曲体表面之反射光之位置。3.一种几何监测器,其系用于导引一曲体至一既定受检位置及检测该曲体之几何组态,其特征包括一投光器组件及一影像检出器,该投光器组件包括用为依时间顺序投射预定颜色之光之多数个光源阵列,该等光源系配置在对应于对该受检位置成不同方位角之方向上,而该影像检出器系设置于该受检位置之上方且位于能接收来自该曲体之受监表面之反射光之位置。4.一种几何监测器,其系用于为导引一曲体至一既定之受检位置及检测该曲体之几何组态,其特征包括一投光器组体及一影像检出器,该投光器组体系包括用为同时投射具有对应于各个光源阵列之颜色光束之多数个光源阵列,该光源阵列系配置于对应于对该受检位置成种种不同方位角之方向,而该影像检出器是设置于该受检位置之上方且位于能接收来自该曲体之受监测表面之反射光的地方。5.依申请专利范围第2,3或4项之几何监测器,其中每一个光源阵列含有配置成列之多数个点状光源。6.依申请专利范围第2,3或4项之几何监测器,其中每一个光源阵列含有一线状光源。7.一种几何监测器,其系用于导引一曲体至一既定之受检位置及检测该曲体之几何组态,其特征包括一投光器组体及一影像检出器,该投光器组体包括用为同时投射依各个光源阵列而不同颜色之光束之多数个光源阵列,该光源阵列系由多数个在对应于对该受检位置成不同仰角之方向上成直线配置之点状光源群所组成,该影像检出器系设置于该受检位置之上方且位于能接收来自该曲体之受监测表面之反射光的方向。8.一种几何监测器,其系用于导引一曲体至一既定受检位置及检测该曲体之几何组态,其特征包括一投光器组体及一影像检出器,该投光器组体包括用为投射一预定颜色之光源群及一接邻之光源群其系投射颜色与该既定颜色不同之光束,此两种光源系同时被动作,该群光源系由多数点状光源所组成,该点状光源系被排列在一既定方位角范围内且具有对该受检位置成一既定仰角之位置上,该影像检出器系设置于该受检位置之上方且位于能接收来自该曲体之受监测表面之反射光的位置。图示简单说明:图1表示依本发明原理制成之几何监测器装置之整体构成之示意图。图2,12及15各表示该装置之投光器组体之放大纵剖面图。图3,4,13,14,16及17各示出投光器组体之底视图,分别显示点状光源阵列;图5及6各示出方位角检测原理之图解;图7,18及19各示出焊接情形及测得影像样图形之间的关系之示意图。图8示出使用已往技术之装置之示意图;图9及10各示出仰角检测原理之图解;及 |
