| 摘要 |
液晶ディスプレイは、ガラス基板とドライバチップとを含む。ドライバチップは、液晶ディスプレイを駆動するように構成される。液晶ディスプレイは、テストラインを更に含む。テストラインは、ガラス基板に形成され、ガラス基板の端の近くまで伸びる。ドライバチップは、入力ピンと出力ピンとを含み、テストラインの両端は、閉ループを形成するように入力ピン及び出力ピンに別々に接続される。ガラス基板がクラックを有するか否かは、テストラインが閉回路になっているか否かを測定することにより判断される。本発明は、電子装置及び液晶ディスプレイテスト方法を更に提供する。本発明では、分解することなく自動検出を実現するために、ガラス基板がクラックを有するか否かが、テストラインが閉回路になっているか否かを検出することにより判断され、これにより、検出効率を向上させる。 |
