发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 〔目的〕可使元件分离领域平坦化,同时可抑制鸟嘴(birds beaks)发生的半导体装置。〔构成〕在Si基板上将第1矽氧化膜2及第1矽氮化膜3叠层,形成Si基板1上面的一部份露出的开口部11之后,在开口部11将被露出的Si基板1蚀刻到预定的深度而形成沟12,在Si基板1上将多晶体矽膜13及第2矽氮化膜14顺序叠层,利用向异性蚀刻法将第2矽氮化膜14蚀刻到沟12之底部的多晶体矽膜13露出为止,将第2矽氮化膜14a残留在开口部11及沟12的侧壁上,又,将多晶体矽膜13残留在开口部11及沟12及之Si基板1露出部上,将第1及第2矽氮化膜3、14a做为遮蔽来热氧化Si基板1来形成元件间分离领域15a。
申请公布号 TW274631 申请公布日期 1996.04.21
申请号 TW084104608 申请日期 1995.05.08
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 小林舞子;黑井隆
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 赖经臣 台北巿南京东路三段三四六号白宫企业大楼一一一二室
主权项
地址 日本