发明名称 Apparat und Verfahren zur Temperaturleitfähigkeitsmessung
摘要
申请公布号 DE4131040(C2) 申请公布日期 1996.11.28
申请号 DE19914131040 申请日期 1991.09.18
申请人 HOECHST AG, 65929 FRANKFURT, DE 发明人 GUETHER, HANS-MICHAEL, 6233 KELKHEIM, DE;ROOSEN, ANDREAS, DR., 6238 HOFHEIM, DE;BOECKER, WOLFGANG, DR., 6239 EPPSTEIN, DE;SOELTER, HANS-JOACHIM, DR., 2808 SYKE, DE
分类号 G01N25/18;(IPC1-7):G01N25/18;G01N25/16 主分类号 G01N25/18
代理机构 代理人
主权项
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