| 主权项 |
1. 一种振荡晶体静态测试装置,其系运用于一测试系统与其上具有一振荡晶体之一待测电路板之间,该装置电连接于该振荡晶体,于该测试系统进行一静态测试时,经一杂讯隔离处理并使该振荡晶体处于振荡状态而发出一代表该振荡晶体振荡频率之信号,提供予该测试系统读取分析,藉以进行品质控制。2. 如申请专利范围第1项所述之振荡晶体静态测试装置,其包含:一振荡频率侦测装置,电连接于该振荡晶体,其系用以使该振荡晶体产生振荡,并经侦测该振荡晶体之振荡状态后,输出代表该振荡晶体振荡频率之信号;以及一隔离装置,电连接于该振荡频率侦测装置与测试系统之间,其系用以隔离该振荡频率侦测装置与除该振荡晶体外之该待测电路板与测试系统上之元件所形成之回路,避免回路上之杂散电容对测量结果产生影响,达成该杂讯隔离处理之功效。3. 如申请专利范围第2项所述之振荡晶体静态测试装置,其中该隔离装置包含:一信号隔离线路,电连接于该振荡频率侦测装置与该测试系统之间,其系用以提供该振荡频率侦测装置与除该振荡晶体外之该待测电路板与测试系统上之元件所形成之回路不共地(ground)之连接关系;以及一电源隔离线路,电连接于该振荡频率侦测装置与测试系统之间,其系用以提供该振荡频率侦测装置之电源与测试系统所运用之电源为不共地(ground)之连接关系。4.如申请专利范围第3项所述之振荡晶体静态测试装置,其中该信号隔离线路系以一光耦合元件为之,用以于接收代表该振荡晶体振荡频率之信号后,将其转为光信号传送再还原为该信号输出至该测试系统,以达成互不共地(ground)之连接关系。5. 如申请专利范围第4项所述之振荡晶体静态测试装置,其中该光耦合元件所输出之代表该振荡晶体振荡频率之信号经一驱动电路予以放大后再经一计频装置计频后得致该振荡晶体之振荡频率。6. 如申请专利范围第3项所述之振荡晶体静态测试装置,其中该电源隔离线路系以一磁耦合元件为之,用以将测试系统所运用之电源利用磁耦合方式以提供该振荡频率侦测装置之电源,以达成互不共地(ground)之连接关系。7. 如申请专利范围第2项所述之振荡晶体静态测试装置,其中该振荡频率侦测装置为一振荡电路,其系用以使该振荡晶体产生振荡,输出代表该振荡晶体振荡频率之振荡信号。图示简单说明:图一:此系本案振荡晶体静态测试装置之一较佳实施例之方块示意图;图二:此系光耦合元件之示意图。 |
