| 主权项 |
1.一种用以提供一测试台与一受测试单位间介面之一般性介面测试转接器,包含:一实际上平坦之介面平面,具有多个接触销,其中每一接触销系与来往于测试台之一预定电信配合;以及一实际上平坦之介面卡,具有一实质上平坦之表面,被配置成与该介面平面耦合,在该平坦表面上之多个接触衬垫,每一接触衬垫乃与各接触销之一配合,俾于该平坦表面被带动与该介面平面成对准匹配时,即在多个接触销与配合之接触衬垫间建立导电接触,至少一个连接器,用以将该介面卡耦合于受测试单位,及在该介面卡上之导电轨迹,使该连接器与一或数个预定之接触衬垫耦合。2.根据申请专利范围第1项之一般性介面测试转接器,另包含:一用以容纳该介面平面之第一框;及一压力框,将介面卡压抵该介面平面。3.根据申请专利范围第2项之一般性介面测试转接器,其中第一框另包括安装于套管式导具上自第一框突出于与该介面平面垂直之方向及在该介面平面之相反两端之一对卡片导件,其中各卡片导件使该介面卡对准介面平面。4.根据申请专利范围第2项之一般性介面测试转接器,其中第一框包括各滑动凸轮及一用以启动各滑动凸轮之传动装置把手;及压力框包括各凸轮从动板,此等从动板具有与滑动凸轮配合之角凸轮槽,俾使传动装置把手在接合位置时,压力框以充分之力量将介面卡压抵介面平面,而提供多个接触销与配合之多个接触衬垫间之导电接触。5.根据申请专利范围第1项之一般性介面测试转接器,其中各接触销包含弹簧装载之金属探针。6.根据申请专利范围第1项之一般性介面测试转接器,其中:该介面平面包括至少一个具有一轴向中心导体与一同轴护套之射频式接触销;及该电路卡组合件包括与射频接触销配合之接触衬垫之一同心对及电耦合于该同心对之接触衬垫之一射频传输线路。7.根据申请专利范围第1项之一般性介面测试转接器,其中:用以使该介面卡与受测试单位导电耦合之至少一连接器包括多个附加于该介面框之导电连接器,及该介面平面包括导电耦合于多个导电连接器之一接触销区域。8.根据申请专利范围第1项之一般性介面测试转接器,其中一接触销乃与来自或发至测试台之每一电信号结合,此种信号系测试台用以测试受测试单位必需者。9.一种一般性介面测试转接器,使用一可互换之电路卡组合件以提供一测试台与具有一连接器之受测试单位间之介面者,包含:一介面框,该框容纳用以接受来自受测试单位之连接器之一或数个介面连接器,一介面平面,具有与测试台结合之第一多数接触销及该介面连接器结合之第二多数接触销,其中与该介面平面系适于与可互换之电路卡配合以使测试台与介面连接器成导电耦合。10.根据申请专利范围第9项之一般性介面测试转接器,其中可互换之电路卡组合片包括:经配置成与该介面平面耦合之一表面,在该平坦表面上之与第一多数接触销配合之第一多数接触衬垫及在该平坦表面上之与第二多数接触衬垫配合之第二多数接触衬垫,使第一多数接触衬垫之选出接触衬垫与第二多数接触衬垫之选出接触衬垫耦合之各导电轨迹,俾于该平坦表面被拉动与该介面平坦成对准匹配时,即在测试台与介面连接器间建立导电接触。11.根据申请专利范围第10项之一般性介面测试转接器,另包含一压力框,该框将电路卡组合件压抵介面平面。12.根据申请专利范围第11项之一般性介面测试转接器,其中:介面框包括各滑动凸轮及用以致动各滑动凸轮之一传动装置把手,压力框包括一凸轮从动板,具有与各滑动凸轮配合之角凸轮槽,俾于该传动装置把手在接合之位置时,使压力框以充分之力量将电路卡组合件压抵该介面平面,而提供多个接触销与配合之多个接触衬垫间之导电接触。13.根据申请专利范围第9项之一般性介面测试转接器,其中各接触销含有弹簧装载之金属探针。14.根据申请专利范围第9项之一般性介面测试器,其中该介面平面包含至少一个具有一轴向中心导体及一同轴护套之射频式接触销;及电路卡组合件包括与该射频接触销配合之接触衬垫之一同心对,及与该同心对之接触衬垫成导电耦合之一射频传输线路。图一为提供一测试台与一受测试单位(UUT)间之本发明一般性介面测试转接器之方块图。图二为本发明之一般性介面测试转接器之立体透视图,该转接器具有一介面平面,一可互换之电路卡组合件及用以将该卡片组合件压抵该介面平面之一压力框。图三为图一中之介面平面及可互换之电路卡组合件之立体透视图。图四A为图三中在介面平面上弹簧装载之接触销及电路卡组合件上之对应接触衬垫之正视图,部分系横截面。图四B为图三中在电路卡组合件上各接触衬垫与互连轨迹之平面图。图五A为图二中在介面平面上之弹簧装载射频同轴连接器及在电路卡组合件上之对应同心接触衬垫之正视图,部分系横截面。图五B为图五A中之弹簧装载射频同轴连接器及一对应之同心接触衬垫之透视图。图五C为图五A中弹簧装载射频同轴连接器在其未压缩状态之横截面图。图五D为图五A中弹簧装载射频同轴连接器之横截面图,该同轴连接器以充分之力量对同心接触衬垫施压,以压缩弹簧。图六为图一中一般性介面测试转接器之立体透视后面图。图七为经配置用于一受测试单位的系统位准测试之本发明一般性介面测试转接器之透视图。图八为本发明之一般性介面转接器经配置以供测试在卡片位准之各单位用之立体透视图。图九为用于受测试单位的卡片位准测试之一现在可互换测试转接器之立体透视图。图十为用于受测试单位的卡片位准测试之另一现在可互换测试转接器之立体透视图。 |
