发明名称 | 接触窗的制造方法 | ||
摘要 | 一种接触窗的制造方法,用以避免后续填入的金属材料产生金属中毒现象 ( metal via poison ) , 其包括下列步骤:在一已形成元件的矽基底上形成一导线;依序在该矽基底上形成一第一绝缘层、一用以平坦化的旋覆玻璃层、与一第二绝缘层;蚀刻该第二绝缘层、该旋覆玻璃层、与该第一绝缘层,以形成一露出该导线的接触窗,该接触窗在该旋覆玻璃层呈一凹陷;利用电浆加强化学气相沈积法在该接触窗的侧壁形成一非晶矽层,其并填入该凹陷,以及延伸至该第二绝缘层表面;以及回蚀刻该非晶矽层,以形成一平坦接触窗。 | ||
申请公布号 | TW328621 | 申请公布日期 | 1998.03.21 |
申请号 | TW085111566 | 申请日期 | 1996.09.21 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 许志清 |
分类号 | H01L21/3205 | 主分类号 | H01L21/3205 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一 | |
主权项 | 1.一种接触窗的制造方法,包括下列步骤:在一已形成元件的矽基底上形成一导线;依序在该矽基底上形成一第一绝缘层、一用以平坦化的旋覆玻璃层、与一第二绝缘层;蚀刻该第二绝缘层、该旋覆玻璃层、与该第一绝缘层,以形成一露出该导线的接触窗,该接触窗在该旋覆玻璃层呈一凹陷;利用电浆加强化学气相沈积法在该接触窗的侧壁形成一非晶矽层,其并填入该凹陷,以及延伸至该第二绝缘层表面;以及回蚀刻该非晶矽层,形成一平坦接触窗。2.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该导线包括铝金属。3.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该第一绝缘层是以化学气相沈积法所形成的氧化层。4.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该旋覆玻璃层是由涂布法所形成的氧化层。5.如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该第二绝缘层是化学气相沈积法所形成的气化层。6.如申请专利范围第 项所述之制造方法,其中形成该非晶矽层的反应温度是介于300℃至550℃之间。图示简单说明:第一A图至第一C图绘示习知一种积体电路接触窗的制程剖面图;以及第二A图至第二E图绘示根据本发明之一较佳实施例的制程剖面图。 | ||
地址 | 新竹科学工业园区工业东三路三号 |