| 摘要 |
<p>Um durch Reflexionsmessung von der Oberfläche eines Materials interessierende Materialeigenschaften zu ermitteln, werden gleichzeitig mehrere Lichtbündel (S1, S2 ... Sn) auf die gleiche Stelle der Oberfläche (B) gerichtet und reflektiertes Licht (R) ausgewertet. Das Licht der Bündel weist dabei gleiche, bei mehreren Bündeln möglicherweise teilweise gleiche oder aber unterschiedliche Spektren auf. Das reflektierte Licht wird nach Spektrumanalyse an einer Recheneinheit 5 ausgewertet, insbesondere bevorzugt mittels Faktoranalyse. <IMAGE></p> |
