主权项 |
1.一种新型的磷化镓铟/磷化铝镓铟(GaInP/AlGaInP)结构,其系包括:(1)n型砷化镓(GaAs)基板;(2)0.5m,浓度为21018cm-3之n型砷化镓(GaAs)缓冲层;(3)0.5m,浓度为41017cm-3之n型Al0.5In0.5P披覆层;(4)2,000A,浓度为41017cm-3之n型(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P被动波导井;(5)7,000A,浓度为41017cm-3之n型Al0.5In0.5P被动波导能障层;(6)900A,不掺杂之(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P光局限层;(7)80A,不掺杂之Ga0.42In0.58P应变量子井;(8)900A,不掺杂之(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P光局限层;(9)7,000A,浓度为51017cm-3之P型Al0.5In0.5P被动波导能障层;(10)2,000A,浓度为51017cm-3之P型(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P被动波导井;(11)0.5m,浓度为51017cm-3之P型Al0.5In0.5P披覆层;(12)100A,浓度为11018cm-3之P型GaInP;(13)2,000A浓度为41019cm-3之P型砷化镓(GaAs)导电层。2.如申请专利范围第1项所述之结构,此种降低远场散射角之新型结构,即在传统磷化镓铟/磷化铝镓铟(GaInP/A1GaInP)半导盘雷射之披覆层中加入被动波导结构。3.一种使用于可见光半导体雷射之磷化镓铟/磷化铝镓铟(GaInP/A1GaInP)结构,其系包括:(1)n型砷化镓(GaAs)基板;(2)0.5m,浓度为21018cm-3之n型砷化镓(GaAs)缓冲层;(3)0.5m,浓度为41017cm-3之n型Al0.5In0.5P披覆层;(4)2,000A,浓度为41017cm-3之n型(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P被动波导井;(5)7,000A,浓度为41017cm-3之n型Al0.5In0.5P被动波导能障层;(6)900A,不掺杂之(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P光局限层;(7)80A,不掺杂之Ga0.42In0.58P应变量子井;(8)900A,不掺杂之(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P光局限层;(9)7,000A,浓度为51017cm-3之P型Al0.5In0.5P被动波导能障层;(10)2,000A,浓度为51017cm-3之P型(Al0.6Ga0.4)0.5In0.5P被动波导井;(11)0.5m,浓度为51017cm-3之P型Al0.5In0.5P披覆层;(12)100A,浓度为11018cm-3之P型GaInP;(13)2,000A浓度为41019cm-3之P型砷化镓(GaAs)导电层。图式简单说明:第一图主动波导结合被动波导之磷化镓铟/磷化铝镓铟(GaInP/A1GaInP)单一量子井雷射之导带结构图。第二图内部相(在主动波导中)强度及外部相(在被动波导中)强度之比値随被动波导之井宽(D)变化之情形。第三图随被动波导之井宽(C)及位障层宽度(D)变化之立体图。第四图最佳条件下,磷化镓铟/磷化铝镓铟(GaInP/AlGaInP)红光半导体雷射光其中实线及虚线分别表示具有被动波导结及不具有被动波导结构之雷射(最佳条件系如图3(a)及3(b)所示,C=0.7m,D=0.2m)第五图在最佳条件下之具有被动波导之磷化镓铟/磷化铝镓铟(GaInP/AlGaInP)分开局限应变量子井(SCH-S-QW)可见光半导体雷射架构。 |