| 主权项 |
1.一种转轴寿命测试装置,适用于对以转轴结合第一物件及第二物件作测试,而该转轴寿命测试装置包括:一主测试装置,具有:一夹持装置,用以夹持该第一物件;以及一摇架,设置成相对于该夹持装置摇动,且该摇架具有一夹持构件,用以夹持该第二物件;其特征在于:更包括至少一连动测试装置,且该等连动测试装置具有与该主测试装置相同的构造,同时于该主测试装置的摇架与该连动测试装置的摇架之间设有一连动连结装置,用以由该主测试装置的动力传送至该连动测试装置。2.如申请专利范围第1项所述的转轴寿命测试装置,更包括一驱动装置,透过一连杆与该主测试装置连接。3.如申请专利范围第1项所述的转轴寿命测试装置,其中该摇架包括两支架,该等支架上各有一沟槽,使该夹持构件可上下移动。4.如申请专利范围第1项所述的转轴寿命测试装置,其中该夹持装置下方设有一高度调整装置。5.如申请专利范围第3项所述的转轴寿命测试装置,其中该夹持构件,包括一固定块和一调整块,该固定块和该调整块间有一螺杆,使该调整块可对应该固定块来回移动。6.如申请专利范围第1项所述的转轴寿命测试装置,其中该夹持装置包括两夹持部,该等夹持部透过一调整杆连接并调整彼此间距离。7.如申请专利范围第6项所述的转轴寿命测试装置,其中该等夹持部上有复数个夹块。8.如申请专利范围第2项所述的转轴寿命测试装置,其中该驱动装置更包括一回转调整装置,藉由变换该回转调整装置与该连杆接合的位置,而变化该等夹持装置的回转角度。9.如申请专利范围第8项所述的转轴寿命测试装置,其中该驱动装置可为一马达。10.如申请专利范围第8项所述的转轴寿命测试装置,其中该回转调整装置可为一圆盘。11.如申请专利范围第1项所述的转轴寿命测试装置,更包括一断电保护系统。图式简单说明:第一图是习知之转轴寿命测试装置之简图;第二图是习智之转轴寿命测试装置之另一简图;第三图a是本创作转轴寿命测试装置之斜视图;第三图b是本创作摇架转轴和安装装置结合前之示意图;第三图c~第三图d是电子产品设置于本创作转轴寿命测试装置以进行测试之示意图;第四图是本创作转轴寿测试装置之前视图;以及第五图是本创作例转轴寿命测试装置之侧视图。 |
