发明名称 具有检测振荡信号的占空因数的机内测试电路的振荡电路
摘要 C-R振荡器产生由电容器和电阻器确定的预定频率的时钟信号,测试电路被连接在C-R振荡器和一对信号端子之间,用于输出所述时钟信号,当外部控制信号被提供给所述测试电路时,测试电路将所述一对信号端子与所述C-R振荡器隔离开,并检查所述时钟信号以判断所述时钟信号的占空因数是否落入到一个目标范围之内,从而使一个外部测试装置不仅能够很容易地诊断所述C-R振荡器产生的时钟信号,并且能够很容易地诊断它的占空因数。
申请公布号 CN1219800A 申请公布日期 1999.06.16
申请号 CN98124172.7 申请日期 1998.10.24
申请人 日本电气株式会社 发明人 中村和也
分类号 H03B5/20 主分类号 H03B5/20
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王岳;叶恺东
主权项 1.以预定频率产生振荡信号(CLK2)的振荡电路,包括在一个信号端口的第一信号端子(14a/14b)处提供所述振荡信号的一个振荡器(11),其特征是还包括;测试电路(12),该测试电路(12)连接在所述振荡器(12)和所述信号端口(14a/14b/14c/14d/14e)之间,并用于检查所述的振荡信号以判断其占空因数是否落入一个目标范围之内。
地址 日本东京都