| 摘要 |
<p>Die integrierte Schaltung weist eine Selbsttesteinrichtung (B) zur Durchführung eines Selbsttests der integrierten Schaltung auf, die einen Steuerausgang (CTR) aufweist. Weiterhin weist sie einen mit der Selbsttesteinrichtung verbundenen Programmspeicher (MI) zum Speichern wenigstens eines von ausserhalb der integrierten Schaltung zugeführten Testprogrammes (P) auf, das während der Durchführung eines Selbsttests durch die Selbsttesteinrichtung ausgeführt wird. Dabei steuert die Selbsttesteinrichtung (B) das Laden des jeweils auszuführenden Testprogrammes von ausserhalb der integrierten Schaltung in den Programmspeicher über ihren Steuerausgang (CTR).</p> |
