发明名称 具有保护结构之积体功率半导体元件
摘要 若功率IC在电感负载下做为高边开关,则负载关掉时会造成故障。这是因驱动IC处的电压反向所造成,藉此驱动IC及高边开关的控制电路间的寄生结构会打开。有一个保护区域位于驱动IC及控制电路间,电位与控制电路相同。于是此寄生结构只有在驱动IC及保护区域间形成。
申请公布号 TW385535 申请公布日期 2000.03.21
申请号 TW084105272 申请日期 1995.05.25
申请人 西门斯股份有限公司 发明人 约瑟玛休斯甘堤勒;卢维里波;伦纳珊德;珍–皮尔史坦格;珍诺堤哈宜
分类号 H01L23/62 主分类号 H01L23/62
代理机构 代理人 郑自添 台北巿敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种具有保护结构之积体功率半导体元件,具有第一导电态的基片,具有至少一个埋置于基片中的第二导电态的第一区域及具有至少一个埋置于基片中的第二导电态的第二区域,具有供电于供电电压的基片接触面及具有埋置于第一区域及第二区域中形成接触面的半导体,至少第一区域中半导体元件的一部分控制至少第二区域中半导体元件的一部分,其特征在于第二导电态的第三区域(21)配置于第一区域(15)及第二区域(16)之间,及第三区域之电位不同于第一区域的电位。2.如申请专利范围第1项之积体功率半导体元件,其中第三区域(21)具有与第二区域(16)相同的电位。3.如申请专利范围第1项或第2项之积体功率半导体元件,其中基片(10)为n型掺杂,且区域(15,16,21)为p型掺杂,及第三区域(21)具有较第一区域低的电位。4.如申请专利范围第1或2项之积体功率半导体元件,其中第三区域(21)完全包围第二区域(16)。5.如申请专利范围第3项之积体功率半导体元件,其中第三区域(21)完全包围第二区域(16)。6.如申请专利范围第1或2项之积体功率半导体元件,其中第三区域(21)完全包围第一区域(15)。7.如申请专利范围第3项之积体功率半导体元件,其中第三区域(21)完全包围第一区域(15)。图式简单说明:第一图为本发明具有保护结构之积体功率半导体元件。第二图为先前技艺之积体功率半导体元件之简化的电路接线图。
地址 德国