发明名称 积体电路绝缘体及制造方法
摘要 一种绝缘沟结构,包括以高密度电浆强化的二氧化矽填沟物(122),及利用化学机械抛磨法去除非沟中的氧化物。
申请公布号 TW388096 申请公布日期 2000.04.21
申请号 TW086107788 申请日期 1997.06.06
申请人 德州仪器公司 发明人 那颂拿;蒋米塔;陈一浸
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 蔡中曾 台北巿敦化南路一段二四五号八楼
主权项 1.一种绝缘沟制造方法,该方法包括下列步骤:a)在矽基底上形成一止抛磨层(polish stopping layer);b)制作该止抛磨层的图案(patterning);c)于该基底被该止抛磨层图案曝光之处形成沟;d)在该基底上利用感应耦合高密度电浆沈积绝缘物质,该绝缘物质填充该沟;以及e)以化学机械法抛磨该基底至该止抛磨层。图式简单说明:第一图a-f侧视截面图,用以显示第一种绝缘沟法的较佳具体实例。第二图显示高密度电浆反应器。第三图a-f显示绝缘沟法之习知技术的侧视截面图。第四图显示沈积与溅散率。第五图说明用于CMOS结构之绝缘的较佳具体实例侧视截面图。
地址 美国