发明名称 |
X射线系统使用多个模型中任一个对图象质量进行自动评估的方法和装置 |
摘要 |
本申请提供一种X-射线系统参数自动评估系统。生成并保存一个物理模式或模板,每一个模板对应于一个所需模型。该自动系统输入一个灰度X-射线图象,然后处理该图象以确定图象构件。如果构件不匹配,则排除该图象。然后该系统确定输入图象中对应于预期物理结构的标志的位置。所说标志包括一个周边环、垂直和水平线段件、和基准段。该系统利用标志预测在其中进行X-射线系统参数测量的研究区(ROI)。最后,在识别的ROI中测量X-射线系统参数。 |
申请公布号 |
CN1283953A |
申请公布日期 |
2001.02.14 |
申请号 |
CN00120114.X |
申请日期 |
2000.07.17 |
申请人 |
通用电气公司 |
发明人 |
F·法罗克尼尔;K·S·库姆普;R·奥夫里希蒂格;A·Y·托克曼 |
分类号 |
H05G1/26;G06T1/00 |
主分类号 |
H05G1/26 |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
陈霁;张志醒 |
主权项 |
1、用于对X-射线成象系统的图象质量进行自动评估的一种方法,该方法包括:根据所说图象构件确定所说输入X-射线图象中标志(130,140,230,240,1830)的位置;处理一个输入X-射线图象以根据所说标志(130,140,230,240,1830)确定图象构件(150,160,170,175,195,250,260,270,275,290,295);根据所说标志(130,140,230,240,1830)预测研究区;和测量在所说研究区内的图象质量参数。 |
地址 |
美国纽约州 |