| 主权项 |
1.一种光波长选择性滤波器,其特征为该滤波器包括至少一个3分具耦合器或至少一个Q埠循环器(40)其中Q≧3,一个1XN WDM-多工(解多工)器(30)其中N≧2,N个导波管(31,32,33,34,35,36,37及38)至少N个反射物件(61,62,63,64,65,66,67及68)及至少N个可变光衰减器(71,72,73,74,75,76,77及78)其中在该循环器(40)或该3分贝耦合器上的一个埠连接至该WDM-多工(解多工)器(30)的一个第一侧;其中每一个导波管(31,32,33,34,35,36,37及38)包括至少一个可变光衰减器(71,72,73,74,75,76,77及78)及至少一个反射物件(61,62,63,64,65,66,67及68)如此至少一个可变光衰减器(71,72,73,74,75,76,77及78)配置在一个反射物件(61,62,63,64,65,66,67及68)及该WDM-多工(解多工)器(30)之间。2.如申请专利范围第1项之光波长选择性滤波器,其特征为该反射物件(61,62,63,64,65,66,67及68)为Bragg格栅。3.如申请专利范围第1项或第2项之光波长选择性滤波器,其特征为该滤波器亦包括至少一个配置于每一个导波管(31.32.33.34.35.36.37及38)中的放大器物件(51.52.53.54.55.56.57及58)其位于反射物件(61,62,63,64,65,66,67及68)及该WDM-多工(解多工)器(30)之间以及至少一个唧筒雷射,其在至少一个导波管中射出唧筒光穿过该放大器物件,朝向该WDM-多工(解多工)器(30)。4.如申请专利范围第3项之光波长选择性滤波器,其特征为至少一个雷射是朝向该WDM-多工(解多工)器(30),将功率推向每一个导波管。5.如申请专利范围第3项之光波长选择性滤波器,其特征为至少一个光开关(20)配置于该雷射及该反射物件(62.64.66及68)之间。6.如申请专利范围第5项之光波长选择性滤波器,其特征为当至少两个唧筒雷射(10.12.14及16)提供给每一光开关(20及22)时,至少有一个雷射(10.12.14或16)发射雷射光,其波长不同于其他所发射雷射光的波长。7.如申请专利范围第1项或第2项之光波长选择性滤波器,其特征为该可变光衰减器(71,72,73,74,75,76,77及78)是多模式干扰Mach Zehnder干涉计之类型,其包括两个MMI-导波管(110及120),经由该两个Mach Zehnder导波管80及90相互连接在一起,其中一个第一Mach Zehnder导波管(80)包括至少一个调整物件(134),而一个第二MachZehnder导波管90则包括至少一个相位控制物件(132)。8.如申请专利范围第1或第2项之光波长选择性滤波器,其特征为该光开关(20或22)为多模式干扰MachZehnder干涉计之类型或是一个数位开关。9.一种自一组波长中选择性过滤至少一波长之方法,其特征为:-经由一个光循环器或一个3分具耦合器将光波长波道传输至一个WDM-多工(解多工)器的一个第一侧;-经由N个不同的导波管连接至该WDM-多工(解多工)器的一个第二侧,传输N个不同波长波道,其中N≧2;-在该波道被一个波长所选择之反射物件反射之前,衰减至少一个至多N-1个之光波长波道;及-穿过该WDM-多工(解多工)器传输该反射的光波长波道,并由该处穿过该循环器或该3分贝耦合器。10.如申请专利范围第9项之方法,其特征为除了先前所提及的波长波道外,在该波道被一个波长所选择之反射物件反射之前放大多至N-1个光波长波道。11.如申请专利范围第10项之方法,其特征为朝向该WDM-多工(解多工)器发射雷射光穿过至少一个放大器物件。12.如申请专利范围第11项之方法,其特征为经由至少一个光开关,藉至少一个连接至该导波管之雷射器发射该雷射光。13.如申请专利范围第11项之方法,其特征为自每个分裂器至少两个雷射器发射该雷射光,其中至少一个雷射波长与其余的不同。14.如申请专利范围第11项之方法,其特征为藉着一个连接至每一个该导波管的雷射器发射该雷射光。15.如申请专利范围第10项至第14项中任一项之方法,其特征为藉着一个多模式干扰Mach Zehnder干涉计而衰减该等波长波道。图式简单说明:第一图说明本发明光滤波器的一个具体实施例。第二图说明本发明光滤波器的另一个具体实施例。第三图说明本发明光滤波器的又一个具体实施例。第四图说明本发明光滤波器的又一个具体实施例。第五图说明本发明光滤波器的又一个具体实施例。第六图说明可用于本发明之可变衰减器的一个范例。 |
