SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF BURN-IN TESTING

摘要

기입회로는, 데이터 입력신호에 응답하여 기입명령을 메모리셀로 출력한다. 디코더는, 어드레스 입력신호를 디코딩하여 어드레스명령을 메모리셀로 출력한다. 카운터는, 번인 테스트시에 입력되는 제어신호에 응답하여 디코드 타이밍을 지연시키는 신호를 디코더로 출력한다. 따라서, 카운터는, 메모리셀로 전송되는 기입회로로부터의 기입명령신호의 동작 사이클에 대하여 디코드 타이밍의 동작 사이클을 지연시켜 레이트 기입 사이클을 삭제한다.