| 主权项 |
1.一种用于在受测光学系统中测量特征之方法,其包含下列步骤:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一讯号及二个第二讯号;提供该第二讯号至该受测光学系统,以产生一个第三讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一讯号之转变及该第三讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之受测光学系统之讯号延迟时间特征。2.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含下列步骤:对于复数个时间期间而言,对于该两个或更多个波长之每一个测量该第一讯号之转变及该第三讯号之转变之间之延迟;及计算该复数个时间期间之平均値。3.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其进一步包含下列步骤:测量该第一讯号及该第三讯号之间之抖动。4.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其进一步包含下列步骤:接收一个调变讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之受测光学系统之讯号延迟时间特征。5.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其进一步包含下列步骤:接收一个调变讯号;及对于两个或更多个波长测量该第三讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定为波长函数之受测光学系统之讯号延迟时间特征。6.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该第一讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。7.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该第三讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。8.根据申请专利范围第4项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该调变讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。9.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其中,该讯号延迟时间特征系叙述讯号之分散性。10.根据申请专利范围第1项之用于在受测光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含测量该第一讯号之转变及相对于一临限电压之该第三讯号之转变之间的延迟之步骤。11.一种用于在受测光学系统中测量特征之设备,其包含:一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个分光器,其连接至该调变光源,且具有一个提供第一词号之第一输出端及子个提供第二讯号之第二输出端,该受测光学系统系连接至该第一输出讯号,以产生一个第三讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该第二讯号之转变及该第三讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之受测光学系统之讯号延迟时间特征。12.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其中,对于复数个时间期间而言,该时域光分析器对于该两个或更多个波长之每一个测量该第一讯号之转变及该第三讯号之转变之间之延迟,且计算该复数个时间期间之平均値。13.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该第一讯号及该第三讯号之间之抖动。14.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其进一步包含一个调变讯号,其中,该时域光分析器对于两个或更多个波长测量该第一讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定为波长函数之受测光学系统之讯号延迟时间特征。15.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其进一步包含一个调变讯号,其中,该时域光分析器对于两个或更多个波长测量该第三讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之受测光学系统之讯号延迟时间特征。16.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该第一讯号之复数个转变之间之延迟。17.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该第三讯号之复数个转变之间之延迟。18.根据申请专利范围第14项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该调变讯号之复数个转变之间之延迟。19.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其中,该讯号延迟时间特征系叙述讯号之分散性。20.根据申请专利范围第11项之用于在受测光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器包含电压补偿器,其接收该第三讯号及该第二讯号。21.一种用于在光学系统中测量特征之方法,其包含下列步骤:由一个受测源接收一个具有未知波长特征之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一讯号及一个第二讯号;提供该第二讯号至一个具有为波长之函数之时间延迟特征之参考系统,以产生一个第三讯号;及测量该第一讯号之转变及该第三讯号之转变之间之延迟,以决定系统特征。22.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统特征包含受测源之波长特征。23.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统特征包含参考系统之时间抖动特征。24.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统特征包含受测源之抖动特征。25.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该第一讯号及第三讯号之间之抖动。26.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含下列步骤:接收一个调变讯号;及测量该第一讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。27.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含下列步骤:接收一个调变讯号;及测量该第三讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。28.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该第一讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。29.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该第三讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。30.根据申请专利范围第27项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该调变讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。31.根据申请专利范围第22项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该波长之特征系由下列群组中选择出:频谱、抖动、漂移、单元至单元之变异、供应功率之变异、温度、时间及鸣声。32.根据申请专利范围第22项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含测量该第一讯号之转变及相对于一临限电压之该第三讯号之转变之间的延迟之步骤。33.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一讯号及一个第二讯号;提供该第二讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之特征。34.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一讯号及一个第二讯号;提供该第二讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数的参考系统之延迟时间特征。35.根据申请专利范围第22项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一讯号及一个第二讯号;提供该第二讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。36.根据申请专利范围第35项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。37.根据申请专利范围第34项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含测量该第一讯号之转变及相对于一临限电压之该第三讯号之转变之间的延迟之步骤。38.根据申请专利范围第21项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;接收一个调变讯号;分割该调变源讯号成为一个第一源讯号及一个第二源讯号;提供该第二源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该调变讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之特征。39.根据申请专利范围第22项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;接收一个调变讯号;分割该调变源讯号成为一个第一源讯号及一个第二源讯号;提供该第二源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该调变讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之参考系统之延迟时间之特征。40.根据申请专利范围第23项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;接收一个调变讯号;分割该调变源讯号成为一个第一源讯号及一个第二源讯号;提供该第二源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该调变讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。41.根据申请专利范围第39项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。42.根据申请专利范围第38项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含测量该第一讯号之转变及相对于一临限电压之该第三讯号之转变之间的延迟之步骤。43.一种用于在光学系统中测量特征之方法,其包含下列步骤:由一个受测源接收一个具有未知波长特征之调变源讯号;提供该调变源讯号至一个具有为波长之函数之已知时间延迟特征之参考系统,以产生一个第二讯号;接收一个调变讯号;及测量该第二讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统特征。44.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统特征包含受测源之波长特征。45.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统特征包含参考系统之时间抖动特征。46.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统特征包含受测源之抖动特征。47.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该第二讯号及该调变讯号之间之抖动。48.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含下列步骤:测量该第二讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。49.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含下列步骤:测量该调变源讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。50.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该调变源讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。51.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该第二讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。52.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其进一步包含测量该调变讯号之复数个转变之间之延迟之步骤。53.根据申请专利范围第44项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该波长之特征系由下列群组中选择出:频谱、抖动、漂移、单元至单元之变异、供应功率之变异、温度、时间及鸣声。54.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含测量该第二讯号之转变及相对于一临限电压之该调变讯号之转变之间的延迟之步骤。55.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一源讯号及一个第二源讯号;提供该第二源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一源讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之特征。56.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一源讯号及一个第二源讯号;提供该第二源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一源讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之参考系统之延迟时间特征。57.根据申请专利范围第44项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;分割该调变源讯号成为一个第一源讯号及一个第二源讯号;提供该第二源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;及对于两个或更多个波长测量该第一源讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。58.根据申请专利范围第57项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。59.根据申请专利范围第56项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含测量该第一讯号之转变及相对于一临限电压之该第三讯号之转变之间的延迟之步骤。60.根据申请专利范围第43项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;提供该调变源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;接收一个调变讯号;及对于两个或更多个波长测量该调变讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之特征。61.根据申请专利范围第44项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;提供该调变源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;接收一个调变讯号;及对于两个或更多个波长测量该调变讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之参考系统之延迟时间特征。62.根据申请专利范围第45项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该具有已知时间延迟特征之参考系统系透过下列步骤而测量:接收一个具有两个或更多个已知波长之调变源讯号;提供该调变源讯号至一个受测系统,以产生一个受测系统之讯号;接收一个调变讯号;及对于两个或更多个波长测量该调变讯号之转变及该受测系统之讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。63.根据申请专利范围第61项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。64.根据申请专利范围第60项之用于在光学系统中测量特征之方法,其中,该测量之步骤包含测量该第一讯号之转变及相对于一临限电压之该第三讯号之转变之间的延迟之步骤。65.一种用于在光学系统中测量特征之设备,其具有一个具有未知波长特征之调变光源及一个具有为波长之函数之已知时间延迟特征之参考系统,该设备包含:一个分光器,其连接至该调变光源,且具有一个提供第一讯号之第一输出端及一个提供第二讯号之第二输出端,该参考系统系连接至该第二输出端,以产生一个第三讯号;及一个时域光分析器,其用于测量该第一讯号之转变及该第三讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。66.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统特征包含调变光源之波长特征。67.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统特征包含参考系统之时间抖动特征。68.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统特征包含受测源之抖动特征。69.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其进一步包含测量该第一讯号及第三讯号之间之抖动之步骤。70.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其进一步包含下列步骤:接收一个调变讯号;及测量该第一讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。71.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其进一步包含下列步骤:接收一个调变讯号;及测量该第三讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。72.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该第一讯号之复数个转变之间之延迟。73.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该第三讯号之复数个转变之间之延迟。74.根据申请专利范围第70项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该调变讯号之复数个转变之间之延迟。75.根据申请专利范围第66项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该波长之特征系由下列群组中选择出:频谱、抖动,漂移、单元至单元之变异、供应功率之变异、温度、时间及鸣声。76.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器包含电压补偿器,其接收该第三讯号及该第二讯号。77.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个分光器,其连接至该调变光源,且具有一个提供第一源讯号之第一输出端及一个提供第二源讯号之第二输出端;一个受测系统,其连接至该第一输出端,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该第一源讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之时间特征。78.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个分光器,其连接至该调变光源,且具有一个提供第一源讯号之第一输出端及一个提供第二源讯号之第二输出端;一个受测系统,其连接至该第一输出端,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该第一源讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之参考系统之延迟时间特征。79.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个分光器,其连接至该调变光源,且具有一个提供第一源讯号之第一输出端及一个提供第二源讯号之第二输出端;一个受测系统,其连接至该第一输出端,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该第一源讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。80.根据申请专利范围第78项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。81.根据申请专利范围第77项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器包含电压补偿器,其接收该测试讯号及该第一源讯号。82.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变器,其用于产生一个调变讯号;一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个受测系统,其连接至该调变光源,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之时间特征。83.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变器,其用于产生一个调变讯号;一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个受测系统,其连接至该调变光源,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之参考系统之延迟时间特征。84.根据申请专利范围第65项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变器,其用于产生一个调变讯号;一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个受测系统,其连接至该调变光源,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。85.根据申请专利范围第78项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。86.根据申请专利范围第77项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器包含电压补偿器,其接收该测试讯号及该第一源讯号。87.一种用于在光学系统中测量特征之设备,其包含:一个调变器,其用于产生上个调变讯号;一个调变光源,其连接至该调变器且具有未知之波长特征;一个参考系统,其具有为波长之函数之已知之延迟时间特征,且其系连接至该调变光源,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该第二讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定系统之特征。88.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统特征包含调变光源之波长特征。89.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统特征包含参考系统之时间抖动特征。90.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统特征包含受测源之抖动特征。91.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该光分析器测量该第二讯号及该调变讯号之间之抖动。92.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该光分析器测量该调变讯号之转变及该调变光源之转变之间之延迟。93.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该光分析器测量该第二讯号之转变及该调变光源之转变之间之延迟。94.根据申请专利范围第88项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该光分析器测量该第二讯号之转变之间之延迟。95.根据申请专利范围第88项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该光分析器测量该调变光源之转变之间之延迟。96.根据申请专利范围第88项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器测量该调变讯号之复数个转变之间之延迟。97.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该光源波长之特征系由下列群组中选择出:频谱、抖动、漂移、单元至单元之变异、供应功率之变异、温度、时间及鸣声。98.根据申请专利范围第88项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器包含电压补偿器,其接收该调变讯号及该第二讯号。99.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个分光器,其连接至该调变光源,且具有一个提供第一源讯号之第一输出端及一个提供第二源讯号之第二输出端;一个受测系统,其连接至该第一输出端,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该第一源讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之时间特征。100.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个分光器,其连接至该调变光源,且其具有一个提供第一源讯号之第一输出端及一个提供第二源讯号之第二输出端;一个受测系统,其连接至该第一输出端,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该第一源讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之参考系统之延迟时间特征。101.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变光源,其具有两个或更多个已知波长;一个分光器,其连接至该调变光源,且具有一个提供第一源讯号之第一输出端及一个提供第二源讯号之第二输出端;一个受测系统,其连接至该第一输出端,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该第一源讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。102.根据申请专利范围第88项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。103.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器包含电压补偿器,其接收该测试讯号及该第一源讯号。104.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变器,其用于产生一个调变讯号;一个调变光源,其连接至该调变器且具有已知之波长特征;一个受测系统,其系连接至该调变光源,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之时间特征。105.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变器,其用于产生一个调变讯号;一个调变光源,其连接至该调变器且具有已知之波长特征;一个受测系统,其系连接至该调变光源,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定为波长之函数之参考系统之延迟时间特征。106.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该参考系统系包含:一个调变器,其用于产生一个调变讯号;一个调变光源,其连接至该调变器且具有已知之波长特征;一个受测系统,其系连接至该调变光源,以产生一个测试讯号;及一个时域光分析器,其用于对于两个或更多个波长测量该测试讯号之转变及该调变讯号之转变之间之延迟,以决定参考系统之抖动特征。107.根据申请专利范围第105项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该系统之延迟时间特征系叙述讯号之分散性。108.根据申请专利范围第87项之用于在光学系统中测量特征之设备,其中,该时域光分析器包含电压补偿器,其接收该测试讯号及该第一源讯号。图式简单说明:第1a图系图示一个典型的光纤系统/元件测试的结构;第1b图系图示另一个典型的光纤系统/元件测试的结构;第2a图系图示根据本发明之一个光纤系统/元件测试的结构之一个实施例;第2b图系图示根据本发明之另一个光纤系统/元件测试的结构之一个实施例;第3图系图示根据本发明之一个实施例的用于一光分析器之例示的硬体环境;第4图系说明一个用于密集波长分割多工特征化及测试的系统;第5图系说明一个典型的密集波长分割多工系统;及第6A至6C图系说明根据本发明之一个实施例的矩阵。 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