| 摘要 |
本发明提供一种半导体积体电路装置，其系具有过电压检测电路，藉由减少元件数量可使晶片尺寸缩小并降低成本，并且抑制每个端子的保护电压与检测电压之参差。施加过电压时，具有第1电流所通过的第1负载部，与该第1电流成正比的第2电流所通过的第2负载部的电流镜电路，系分别与上述复数端子a至端子m相连接，将连接至该复数端子中之一个端子之电流镜电路的第1负载部，作为连接至其他复数端子之电流镜电路的第1负载部共同使用，同时将该第1负载部作为过电压保护电路，并且在连接至复数端子的电流镜电路的各第2负载部中，分别具备有检测算2电流的过电压检测电路。 |
