发明名称 具有绝缘体之半导体装置及其制造方法
摘要 本发明系提供一种半导体装置及其制造方法,具备有:可藉由无孔洞(void)等缺陷之良好膜质之绝缘膜填充微细之沟道内部,以显现良好之分离特性之元件分离构造。本发明之半导体装置,系具备有:半导体基板1与分离绝缘体2a至2c。于半导体基板1之主表面形成沟道17a至17c。分杂绝缘体2a至2c,乃利用热氧化法形成于沟道内部,系用以于半导体基板1之主表面分离元件形成区。上述分离绝缘体2a至2c系多数之氧化膜3a至3c、4a至4c、5a至5c、6b、7b之叠层体。
申请公布号 TW200401395 申请公布日期 2004.01.16
申请号 TW091136611 申请日期 2002.12.19
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 泽田真人;飞松博;林出吉生
分类号 H01L21/76 主分类号 H01L21/76
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本