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经营范围
发明名称
非挥发性半导体记忆装置
摘要
本发明的非挥发性半导体记忆装置之记忆体单元,系形成于矽基板(1)上隔着ONO膜(13)所形成的矽层(3)上。记忆体单元系包括:矽层(3)内所形成的源极区域(4)与汲极区域(5)、ONO膜(6)及闸极(7)。ONO膜(6)与ONO膜(13)系包括捕获电荷用之电荷捕获部的氮化膜(6b,13b)。
申请公布号
TW200401432
申请公布日期
2004.01.16
申请号
TW091134449
申请日期
2002.11.27
申请人
三菱电机股份有限公司
发明人
加藤宏;久家重博;野田英行;森下玄;上野修一
分类号
H01L27/10
主分类号
H01L27/10
代理机构
代理人
洪澄文
主权项
地址
日本
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