发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 本发明的非挥发性半导体记忆装置之记忆体单元,系形成于矽基板(1)上隔着ONO膜(13)所形成的矽层(3)上。记忆体单元系包括:矽层(3)内所形成的源极区域(4)与汲极区域(5)、ONO膜(6)及闸极(7)。ONO膜(6)与ONO膜(13)系包括捕获电荷用之电荷捕获部的氮化膜(6b,13b)。
申请公布号 TW200401432 申请公布日期 2004.01.16
申请号 TW091134449 申请日期 2002.11.27
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 加藤宏;久家重博;野田英行;森下玄;上野修一
分类号 H01L27/10 主分类号 H01L27/10
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本