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发明名称
半导体装置之制造方法
摘要
闸电极由包含多个导电层的叠层结构形成,从而沿下部第一导电层的通道的宽度大于沿上部第二导电层的通道的宽度。在用于形成LDD的离子掺杂过程中,闸电极被用作掩模。结合干刻制程,用于形成闸电极的掩模图案被加工成最佳形状,从而与闸电极重叠的LDD(Lov)为1μm或1μm以上,较佳1.5μm或1.5μm以上。
申请公布号
TW200403860
申请公布日期
2004.03.01
申请号
TW092117945
申请日期
2003.06.30
申请人
半导体能源研究所股份有限公司
发明人
物江滋春
分类号
H01L29/786
主分类号
H01L29/786
代理机构
代理人
林志刚
主权项
地址
日本
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