| 摘要 |
本发明系提供一种测试一电子电路（100）与另一电子电路之该等互连之测试配置。一第一选择此等I／O节点（120），被配置于该电子电路（100）之一功能模式中接收输入资料，而且于该电子电路（100）之测试模式中，被耦合至之一测试单元。该测试单元有一组合电路（160），以实行一多重输入XOR或XNOR闸。该测试单元也经由此等逻辑闸（141–144），提供该等第一选择I／O节点（120）与一第二选择此等I／O节点（130）之间的此等互连。此等互连增加该电子电路（100）之互连测试涵盖率，因与该另外电子电路之该等互连与此等I／O节点（131–134）相关联，也变成可测试。 |
