发明名称 半导体装置
摘要 为了将开关电路装置设成5GHz之装置,必须设置分流FET,然而在闸极电极邻接之TFT间,为了提升隔离性,必须确保20μm程度的间隔距离。本发明提供一种半导体装置,其系在FET的闸极电极以及电极焊垫、配线所邻接的其他TFT、闸极金属层、杂质领域之间设置高浓度杂质领域,以抑制耗尽层的扩张。在FET的遮罩对位上,系藉由使用设置在源极汲极领域上的氧化膜,提升遮罩对位的精确度。即使缩小闸极宽度亦能够提升FET的基本性能,并藉由与先前同等的特性,可收缩闸极宽度,且减低FET间的间隔距离,因此得以实现隔离性提升之5GHz开关。
申请公布号 TW200406066 申请公布日期 2004.04.16
申请号 TW092125569 申请日期 2003.09.17
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 浅野哲郎;原干人;中岛好史;石原秀俊
分类号 H01L29/80 主分类号 H01L29/80
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本