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发明名称
具有焊锡突块之半导体装置及半导体装置突块形成方法
摘要
一种半导体装置突块形成方法,该半导体装置具有至少一接垫。首先,将一具有一铜层之凸块下金属层形成于该半导体装置之该接垫上。然后,于该凸块下金属层上选择性地形成一焊锡突块于对应该半导体装置之该接垫的位置,其中该焊锡突块系直接接触该凸块下金属层之铜层。接着,回焊该焊锡突块以产生熔融之焊锡沾湿(wet)并且连接于该半导体装置之该接垫。在执行该回焊步骤之后,以约135℃至约175℃之温度加热该半导体装置约30至约40分钟。本发明另揭示一种前述方法制得之具有焊锡突块之半导体装置。
申请公布号
TW200427039
申请公布日期
2004.12.01
申请号
TW092113787
申请日期
2003.05.21
申请人
日月光半导体制造股份有限公司
发明人
杨宏仁;翁肇甫;黄敏龙
分类号
H01L23/488
主分类号
H01L23/488
代理机构
代理人
花瑞铭
主权项
地址
高雄市楠梓区加工出口区经三路二十六号
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