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发明名称
将用于半导体元件之厚氧化物形成于Si或SiC上的方法PROCESS FOR FORMING THICK OXIDES ON SI OR SIC FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要
于一矽或碳化矽基材之沟槽内,藉由氧化一沉积于沟槽内之多晶矽层,来形成一位于沟槽型萧基(Schottky)装置沟槽内之匣极氧化物。少量基材亦被氧化,藉此形成一位于基材与被形成之氧化物之间的良好界面。沟槽角落是藉由一起始形成其后移除之牺牲氧化物层来形成圆底。
申请公布号
TW200509319
申请公布日期
2005.03.01
申请号
TW093120601
申请日期
2004.07.09
申请人
国际整流器公司
发明人
席欧拉 大卫迪;何智
分类号
H01L21/8256
主分类号
H01L21/8256
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
美国
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