发明名称 将用于半导体元件之厚氧化物形成于Si或SiC上的方法PROCESS FOR FORMING THICK OXIDES ON SI OR SIC FOR SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要 于一矽或碳化矽基材之沟槽内,藉由氧化一沉积于沟槽内之多晶矽层,来形成一位于沟槽型萧基(Schottky)装置沟槽内之匣极氧化物。少量基材亦被氧化,藉此形成一位于基材与被形成之氧化物之间的良好界面。沟槽角落是藉由一起始形成其后移除之牺牲氧化物层来形成圆底。
申请公布号 TW200509319 申请公布日期 2005.03.01
申请号 TW093120601 申请日期 2004.07.09
申请人 国际整流器公司 发明人 席欧拉 大卫迪;何智
分类号 H01L21/8256 主分类号 H01L21/8256
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 美国