发明名称 PCI系统之检测方法
摘要 本发明系有关于一种PCI系统之检测方法,尤指一种可快速确认系统问题点之PCI系统检测方法,该PCI系统至少包含有一处理器、一基本输出入系统、一包含有PC I控制器之晶片组、一PCI汇流排及至少一PCI装置;其检测方法主要系包含有下列步骤:提供一中断服务测试程式;利用中断服务测试对欲测试之PCI装置之中断暂存器写入致能,令该PCI装置发出一中断要求讯号;并检测是否于一预定期间内收到该PCI装置之中断要求讯号,藉以判断中断功能是否正确;另可包含有PCI暂存器之读写测试、PCI控制讯号测试及PCI资料汇流排测试,可加速品管及测试之流程者。
申请公布号 TWI234705 申请公布日期 2005.06.21
申请号 TW092133956 申请日期 2003.12.03
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 石健毅
分类号 G06F11/26 主分类号 G06F11/26
代理机构 代理人 张秀夏 台北市大安区敦化南路2段38号9楼
主权项 1.一种PCI系统之检测方法,该系统包含有一中央处理器、一基本输出入系统、一包含有PCI控制器之晶片组、一PCI滙流排及至少一PCI装置,该检测方法之主要实施步骤系包含有:提供一中断服务测试程式;利用中断服务测试程式令欲测试之PCI装置发出中断要求讯号;及判断该PCI系统之中断功能是否正确。2.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该PCI装置包含有一中断暂存器,而该中断服务测试程式系以直接对该中断暂存器写入致能,令该PCI装置发出中断要求讯号者。3.如申请专利范围第1项所述之检测方法,其中该中断服务测试程式设有一预定期间,若于该预定期间内收到该PCI装置之中断要求讯号,则判断该系统之中断功能正确;若未于该预定期间收到该PCI装置之中断要求讯号,则判断其中断功能错误。4.如申请专利范围第3项所述之检测方法,尚可包含有一中断功能问题点检测之程序,可于其中断功能错误时实施者。5.如申请专利范围第4项所述之检测方法,其中该中断功能问题点检测程序系包含有下列步骤:检测基本输出入系统暂存器中之中断功能是否致能;及检测基本输出入系统之中断路径选择表是否正确。6.如申请专利范围第5项所述之检测方法,其中该中断功能问题点检测程序尚可包含有下列步骤:检查主机板之中断讯号线之布线是否正确;及检测该PCI装置之中断功能是否正确。7.如申请专利范围第6项所述之检测方法,尚可包含有一测试结果记录及回报之步骤。8.如申请专利范围第1项所述之检测方法,尚可包含有一PCI暂存器读写之测试程序,藉以测试该PCI装置之功能是否正确。9.如申请专利范围第1项所述之检测方法,尚可包含有一PCI控制讯号测试程序,藉以测试该PCI系统之控制讯号传输是否正确。10.如申请专利范围第1项所述之检测方法,尚可包含有一PCI资料滙流排之测试程序,藉以测试该PCI系统之资料传输是否正确。图式简单说明:第1图:系习用电脑架构中PCI系统之方块示意图;第2图:系现行电脑架构中PCI系统之方块示意图;第3图:系本发明一较佳实施例之流程图;及第4图:系本发明中断错误问题点检测方法之流程图。
地址 台北县新店市中正路533号8楼