发明名称 快闪记忆体的源极线与快闪记忆体之制造方法
摘要 本发明提供一种快闪记忆体的源极线之制造方法,包括下列步骤:提供一基底,且于该基底上依序形成有一第一绝缘层、一第一导电层与一第二绝缘层;图案化上述第二绝缘层,以在该第二绝缘层中形成一第一开口并露出部分上述第一导电层;形成一第三绝缘层于上述第一开口侧壁,以形成一第二开口;依序蚀刻上述第二开口下方之第一导电层与第一绝缘层,以露出部分上述基底表面;形成一间隙壁于上述第二开口侧壁;形成一源极区于上述露出表面的基底中,沉积一第二导电层于上述第三绝缘层上与上述第二开口中;蚀刻去除上述第二绝缘层上的第二导电层,留下上述第二开口中之第二导电层作为源极线,且其具有一凹入之上表面;沉积一遮蔽层于上述第二绝缘层与上述源极线上;以及平坦化上述遮蔽层至露出该第二绝缘层,留下该源极线上凹入处之遮蔽层。
申请公布号 TW200527609 申请公布日期 2005.08.16
申请号 TW093103465 申请日期 2004.02.13
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 杨瑞祥;廖瑛瑞;陈原逢
分类号 H01L21/8247 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹县新竹科学工业园区园区三路123号