| 主权项 |
1.一种元件测试装置,其包括:一装载区之设置系提供托盘组以装载待测试元件;复数个梭子之设置系提供作为装载待测试元件;一装载夹具之设置系提供作为将各个元件自一托盘组传送至位于一元件负载测试区处的一梭子;一第一卸载夹具之设置系提供作为将各个元件自位于一元件卸载测试区处的一梭子传送至一输出元件的复数个托盘组;一梭子之传输机构之设置系提供作为驱动复数个该梭子于元件装载区、负载测试区、卸载测试区及元件卸载区间移动;一至少具有一测试座之测试室的设置系提供作为测试各个元件使用;一元件之定址机构的设置系提供作为将各个元件自位于一元件负载测试区处的一梭子传送到至少具有一个的一测试座,且随即在由该测试座传送到位于元件卸载测试区处的一梭子。2.依据专利申请范围第1项所述之元件测试装置,还增设有:一缓冲装置,其设置至少可提供暂时储存一个元件;一第二卸载夹具,其设置系提供将一元件由该缓冲装置传送至一输出元件的托盘组。3.依据专利申请范围第2项所述之元件测试装置,其中,该缓冲装置之设置系自一与该第一卸载夹具并列的第一位置移动至一与该第二卸载夹具并列的第二位置。4.依据专利申请范围第3项所述之元件测试装置,其中,该缓冲装置之第一位置及第二位置在垂直方向上并不系位于同一高度。5.依据专利申请范围第2项所述之元件测试装置,其中,该装载夹具系装设在一横跨两端之元件测试装置导引架的第一侧,且该第一卸载夹具系装设在该导引架的第二侧。6.依据专利申请范围第5项所述之元件测试装置,其中,该第二卸载夹具系装设在该导引架的第一侧。7.依据专利申请范围第1项所述之元件测试装置,其中增设一预热装置,其设置系将各个待测试元件移动进入该测试室前作事先的加热。8.依据专利申请范围第7项所述之元件测试装置,其中,该预热装置,包含一加热板,当该梭子沿着元件装载区及该测试室间的加热路径时,该加热板会针对该梭子及该梭子所装载之元件进行加热。9.依据专利申请范围第8项所述之元件测试装置,其中增设一梭子之分散传输机构,其设置系作为驱动该已装载待测试元件之梭子沿着一可绕过该加热路径的另一路径移动。10.依据专利申请范围第1项所述之元件测试装置,其中增设一托盘传送装置,其设置系作为将空载之托盘组自装载区透过该第一卸载夹具而传送至该托盘组可接收已测试完成之元件处的元件输出位置。11.依据专利申请范围第10项所述之元件测试装置,其中,该托盘传送装置可驱动托盘组自装载区移动至测试监定为良好之元件的输出位置并可透过该第一卸载夹具夹取装载该良好元件及传送至一再测试之元件输出位置且该托盘组可透过该第一卸载夹具接收这些需再测试的元件。12.依据专利申请范围第11项所述之元件测试装置,其中,该托盘传送装置可驱动托盘组自再测试之元件输出位置至与装载区并列之位置。13.依据专利申请范围第1项所述之元件测试装置,其中增设:一第一定址头,其设置系作为将元件自位于一元件负载测试区处的一梭子传送到至少具有一个的一测试座及自该至少一个的测试座到一位于元件卸载测试区处的梭子;一第二定址头,其设置系作为将元件自位于一元件负载测试区处的一梭子传送到至少具有一个的一测试座,且再自该至少一个的测试座到一位于元件卸载测试区处的梭子,其中,该装载夹具机构之设置系作为驱动该第一定址头及该第二定址头在一环状的区间内将元件自位于一元件负载测试区处的一梭子传送到至少具有一个的一测试座,且再将元件自至少具有一个的一测试座件负载测试区处的一梭子传送到测试元件输出区。14.依据专利申请范围第13项所述之元件测试装置,其中,该至少具有一个的测试座系装设在低于该负载测试区及该卸载测试区之高度处。15.依据专利申请范围第14项所述之元件测试装置,其中,该定址装置系设置作为驱动该第一及第二定址头以致使当其中一定址头处于该至少一个的测试座时,另一个定址头会由该负载测试区移动至该卸载测试区并穿越该至少一个的测试座。16.依据专利申请范围第13项所述之元件测试装置,其中,该测试室具有复数个测试座且其中的第一及第二定址头系设置作为可连续地传输各个元件。17.依据专利申请范围第13项所述之元件测试装置,其中,该定址装置之设置系致使在一定址头夹取一元件且移至该至少一个之测试座处之后,另一个定址头会自该负载测试区处夹取一元件且移至一邻近该至少一个之测试座的待命位置。18.依据专利申请范围第13项所述之元件测试装置,其中,该定址装置之设置系驱动第一定址头及第二定址头沿着负载测试区、该至少一个之测试座及卸载测试区之特定的路径移动。19.一种元件测试装置的操作方法,其包括:将各个元件透过一装载夹具自一输入元件之托盘组传送至一位于元件装载区之梭子;驱动该梭子沿着一自该元件装载区经过该负载测试区之测试输入路径而进入一测试室;将该元件自一位于负载测试区的梭子传送至该测试室中的测试座上;在该测试座上进行该各个元件的测试;将该元件自该测试座传送至一位于卸载测试区的梭子上;驱动该梭子自该卸载测试区移动至元件卸载区;透过一卸载夹具将该已测试完成之元件卸载至元件输出之托盘组,其中,测试监定结果为良好的各个元件系卸载至一装载良好元件之托盘组,需再进行测试的各个元件系卸载至一装载需再测试元件之托盘组,损坏的元件则系卸载至一装载损坏元件之托盘组。20.依据专利申请范围第19项所述之元件测试装置的操作方法,其中,驱动该梭子沿着一测试输入路径的步骤包括:当其需要在高温条件下测试该元件时,驱动该梭子沿着一预热装置移动,致使该梭子及该梭子所装载之元件会再其抵达该负载测试区前预先加热;当其需要在室温条件下测试该元件时,驱动该梭子沿一特定路径而绕着该预热装置移动。21.依据专利申请范围第19项所述之元件测试装置的操作方法,其中,卸载损坏元件的步骤包括:透过一第一卸载夹具,自该梭子传送该损坏元件至一缓冲装置;透过一第二卸载夹具,自该缓冲装置传送该损坏元件至一装载损坏元件之托盘组。22.依据专利申请范围第21项所述之元件测试装置的操作方法,其中,增加一步骤,在该损坏元件传送至该缓冲装置后且在该损坏元件传送至该装载损坏元件之托盘组前,驱动该缓冲装置自一与该第一卸载夹具并列的第一位置至与该第二卸载夹具并列的第二位置。23.一种元件测试装置的操作方法,其中,在一测试室内测试复数个元件之程序包括:将各个元件透过一第一定址头自一位于负载测试区处的梭子传送至一测试座,接着进行元件之测试作业,且将各个完成测试的元件透过该第一定址头传送至一位于卸载测试区处的梭子;将各个元件透过一第二定址头自一位于负载测试区处的梭子传送至一测试座,接着进行元件之测试作业,且将各个完成测试的元件透过该第二定址头传送至一位于卸载测试区处的梭子;其中,该第一定址头及该第二定址头在一环状的区间内沿着自负载测试区至该测试座且自该测试座至该卸载测试区之特定的路径移动。24.依据专利申请范围第23项所述之元件测试装置的操作方法,其中,该第一定址头系位于该测试座上,以致于该元件可被进行测试,而该第二定址头则:自该卸载测试区穿越该测试座而移动至该负载测试区;自一位于负载测试区的梭子夹取各个元件;移动至一邻近该测试座的待命位置。图式简单说明:第一图为显示本发明较佳实施例元件测试装置之俯视图;第二图为显示第一图中的元件测试装置主要元件之立体视图;第三图为显示本发明较佳实施例元件测试装置中定址装置之立体视图;第四A、四B、四C及四d图为显示第三图中本发明元件测试装置的定址装置作业流程之俯视图。 |
