一种离散量的上电自检电路

摘要

本发明提出一种离散量的自检电路，可以有效解决现有技术中由于外围器件带来的高功耗的技术问题。该离散量的自检电路和方法通过自检类型选择端口信号进行比较，并将比较后的结果与指令寄存器比较，可使每个通道均被自检一次。本发明将自检电路集成与离散量电路芯片内部，故只需外部端口提供vref_hi和vref_lo即可，外围电路少。同时该电路结构简单，不仅降低了功耗，而且减少了自检成本，可广泛应用于离散量电路中。

主权项

一种离散量的上电自检方法，其特征在于，包括以下步骤：1]根据首先访问的指令寄存器，确定自检类型；所述自检类型包括0/1自检和1/0自检；所述0/1自检具体是：首先由指令1寄存器发出“0”，再由指令2寄存器发出“1”；1/0自检为，首先由指令2寄存器发出“1”，再由指令1寄存器发出“0”；2]根据自检类型由指令寄存器发出s0，s1和s2信号，当s0为0时，开关打开，进入自检阶段，此时离散量信号<n‑1:0>被屏蔽，基准电压输入，执行自检；3]自检类型为0/1自检时，则控制信号首先将vref_lo与vref比较，之后将vref_hi与vref比较，每次比较完成生成n位数据，n位数据均被存储于数据寄存器中；自检类型为1/0自检时，则控制信号首先将vref_hi与vref比较，之后将vref_lo与vref比较，每次比较完成生成n位数据，n位数据均被存储于数据寄存器中；4]数据寄存器中的n位数据分别与标准数据进行逐位比较，完成自检。