发明名称 SCANNING PROBE MICROSCOPE
摘要 [과제] 외기와 차단된 측정실 내의 주사 프로브 현미경에 시료대를 반송하여 3차원 이동 기구에 장착할 때, 3차원 이동 기구에 과도한 하중이 걸리는 것을 억제한 주사 프로브 현미경을 제공한다. [해결 수단] 캔틸레버(1)와, 시료대(10)와, 시료대를 이동시키는 3차원 이동 기구(11)와, 외기와 차단 가능한 내부 공간을 갖는 측정실(100)을 구비한 주사 프로브 현미경(200)에 있어서, 적어도 캔틸레버와, 시료대와, 3차원 이동 기구가 측정실의 내부에 수용되고, 측정실은 시료대를 반송하기 위한 한 쌍의 가이드 레일(110)을 구비하고, 시료대는 가이드 레일 위를 주행 가능한 걸어맞춤부(10c, 10d)를 구비하고, 3차원 이동 기구는 소정 위치 근방에 배치되고 한 쌍의 가이드 레일의 사이에 걸쳐 상기 가이드 레일의 상하로 이동 가능하고, 소정 위치로 시료대가 반송되면, 3차원 이동 기구가 가이드 레일의 아래로부터 상승하여 시료대의 하면에 장착되고, 주사 프로브 현미경을 측정 가능하게 한다.
申请公布号 KR20160142229(A) 申请公布日期 2016.12.12
申请号 KR20160059397 申请日期 2016.05.16
申请人 가부시키가이샤 히다치 하이테크 사이언스 发明人 안도 가즈노리
分类号 G01Q10/06;G01Q30/08 主分类号 G01Q10/06
代理机构 代理人
主权项
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