发明名称 Wide Insulation testing device
摘要 본 발명은 대면적 단열재 검사장치에 관련되며, 구성에 특징을 살펴보면, 피측정물(A) 양면에서 대향하게 구비되는 고열원(10)과 저열원(20) 및, 고열원(10) 또는 저열원(20)에 설치되어 열전도를 측정하는 센서(30)를 포함하여 구성되고, 상기 고열원(10)과 저열원(20)은 한 쌍의 지지암(40)(40')에 의해 횡방향으로 대향하게 지지되어, 피측정물(A)이 세워진 상태로 투입되는 수직형 진입부(42)를 형성하고, 상기 어느 일측 지지암은 가이드레일(44)을 타고 횡방향으로 이송되어, 수직형 진입부(42)에 위치된 피측정물(A)이 고열원(10)과 저열원(20) 사이에 가압되도록 구비되는 것을 특징으로 한다. 이에 본 발명은 고열원와 저열원가 지지암에 의해 수직 개방형으로 구비되어 피측정물이 세워진 상태로 검사환경이 사용환경과 유사 내지 동일하게 설정되어 보다 현실적인 검사데이터를 기준으로 양품 판별되고, 수직형 진입부로 인해 공간활용도가 우수하면서 자유로운 검사 영역 변경으로 대면적 피측정물 검사작업에 적합하고, 특히 국부영역 측정방식으로 검사함에 따라 휨이나 두께 편차를 포함하는 불균일한 피측정면에 영향을 받지 않고 긴밀하게 밀착되어 측정정밀도가 향상되는 효과가 있다.
申请公布号 KR20160142475(A) 申请公布日期 2016.12.13
申请号 KR20150078164 申请日期 2015.06.02
申请人 (주)에스에스브이테크;신정무역 주식회사;(주)브이아이테크 发明人 장충효;박선우;이창욱
分类号 G01N25/18;G01K13/00 主分类号 G01N25/18
代理机构 代理人
主权项
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